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碩鋮工業(yè)簽約德米薩智能進銷存系統(tǒng)提升企業(yè)管理水平
燊川實業(yè)簽約德米薩醫(yī)療器械管理軟件助力企業(yè)科學(xué)發(fā)展
森尼電梯簽約德米薩進銷存系統(tǒng)優(yōu)化企業(yè)資源管控
喜報!熱烈祝賀德米薩通過國際CMMI3認(rèn)證
德米薩推出MES系統(tǒng)助力生產(chǎn)制造企業(yè)規(guī)范管理
德米薩醫(yī)療器械管理軟件通過上海市醫(yī)療器械行業(yè)協(xié)會評審認(rèn)證
德米薩ERP助力客戶成功對接中石化易派客平臺
選擇進銷存軟件要考慮哪些因素
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非金屬超聲波檢測儀是用于檢測混凝土強度、裂縫深度、勻質(zhì)性及內(nèi)部缺陷的專業(yè)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于建筑基樁完整性評估、結(jié)構(gòu)缺陷檢測和巖土工程勘察領(lǐng)域 [1] [3] [5]。該設(shè)備通過超聲波透射法、回彈綜合法實現(xiàn)非破壞性檢測,可識別損傷層厚度并評估材料力學(xué)性能,檢測穿透距離可達(dá)10米(電火花震源超過50米) [1-2] [6]。設(shè)備采用雙通道信號采集系統(tǒng),配備高亮度彩屏和智能處理軟件,支持聲參量自動判讀與動態(tài)波形顯示(≥30幀/秒),聲時測讀精度達(dá)±0.05μs [1] [3] [6]。內(nèi)置大容量鋰電池可實現(xiàn)8-10小時續(xù)航,發(fā)射電壓可調(diào)范圍涵蓋250V至1000V,兼容一發(fā)雙收檢測模式 [2] [4]。部分型號集成無線傳輸功能并符合JGJ 106、CECS 02:2005等十余項行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),支持基樁全組合超聲波分析及多剖面同步檢測 [5]。這是一個典型地放置檢查機器的位置,因為這里可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷以及機器貼放的大多數(shù)缺陷。姑蘇區(qū)整套自動化缺陷檢測設(shè)備設(shè)備廠家

基準(zhǔn)點圖4設(shè)備可以檢查所有 類型的基準(zhǔn)點,而且任 何構(gòu)件都可以被定義成 一個基準(zhǔn)點。雖然三個基 準(zhǔn)點可以補償一塊單板的 變形,但通常情況下只需 要確定兩個基準(zhǔn)點就可以 了。每個基準(zhǔn)點至少離單 板邊緣5mm(0.2”)。 十字形、菱形、星形等比較適用,并建議使用統(tǒng)一的黑背 景。此外,十字形的基準(zhǔn)點特別有優(yōu)勢,他們在檢測光下的圖像十分穩(wěn)定且可以被快速和容易地判定。。確認(rèn)壞板設(shè)備有能力檢查所有已知類型的壞板標(biāo)識。板上的任 何構(gòu)件都可以被定義為壞板標(biāo)識。這里建議采用與上述基 準(zhǔn)點的判定相類似的方法,即在可能的情況下,首先通過 檢查整板或已完成組裝的單板上的單個壞板標(biāo)識來進行確 認(rèn)。板上每個單獨的壞板標(biāo)識只有在整板的壞板標(biāo)識檢查失敗后才會被逐一檢查;整板的壞板標(biāo)識應(yīng)該定位于PCB的邊上。太倉重型自動化缺陷檢測設(shè)備銷售價格判定:生成數(shù)字化檢測報告企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通過積累歷史缺陷數(shù)據(jù)持續(xù)優(yōu)化算法參數(shù),將劃痕識別靈敏度提升至微米級。

晶片缺陷檢測儀是一款基于光學(xué)和機械技術(shù)的精密分析儀器,主要用于晶圓制造過程中表面顆粒、劃痕、凹坑和微管缺陷的分析檢測 [1]。該設(shè)備采用405nm光學(xué)系統(tǒng)與多頻道探測器組合技術(shù),可檢測顆粒、劃痕、凹坑及微管等缺陷類型,并配備2至6英寸夾具適配不同規(guī)格晶片。其自動化功能包含機械手臂傳輸和自動對焦系統(tǒng),提升了檢測效率和精度。截至2021年1月,該設(shè)備主要技術(shù)參數(shù)包括 [1]:1.采用405nm波長的光學(xué)系統(tǒng),提升表面微小缺陷的識別能力;
PC機應(yīng)用程序在WIN2000操作系統(tǒng)上, 編寫了客戶服務(wù)端軟件。在VC+ + 6. 0編寫的應(yīng)用程序基本框架下,生成可視化儀器操作面板,實現(xiàn)了四通道波形的實時顯示,16通道波形間的任意切換,可**對任意通道實現(xiàn)增益校正、進波門和失波門的設(shè)置、探頭參數(shù)測定、繪制DAC曲線、自動生成探傷工作報告等工作。作為一種虛擬探傷系統(tǒng),在V C+ + 的平臺上構(gòu)建一個通用探傷的數(shù)據(jù)庫。用戶不但可以根據(jù)實際需求選擇相應(yīng)的探傷標(biāo)準(zhǔn)和探傷設(shè)備的技術(shù)指標(biāo),而且在T I Code Composer Studio 平臺和ALTERA MUX+plusII 10. 0平臺的支持下,可以實現(xiàn)對嵌入式DSP子系統(tǒng)的硬件和軟件重構(gòu)。電子元件檢測中,系統(tǒng)可識別0.1mm2的焊錫殘留與引腳氧化缺陷,采用OpenCV庫實現(xiàn)實時圖像處理。

缺陷檢測基于光學(xué)成像與圖像處理技術(shù),通過特殊光源組合突出表面缺陷特征:暗場打光捕捉劃傷、油墨黑點等平面缺陷,明場打光檢測凹凸點、橘紋等立體缺陷,透光打光用于砂眼、崩邊等透光缺陷的輪廓定位 [1] [3]。檢測系統(tǒng)配置顯微鏡級物像放大器與**照明光源,采用線掃相機逐行拍攝技術(shù)實現(xiàn)高速采集 [2]。典型檢測系統(tǒng)包含以下**組件:基座與支架:提供機械支撐與運動機構(gòu)夾緊裝置:實現(xiàn)檢測物品的精確定位驅(qū)動機構(gòu):控制檢測區(qū)域移動與翻轉(zhuǎn)多光譜攝像頭:搭載可調(diào)式光學(xué)鏡頭組多工位檢測設(shè)備可同步完成托盤正反兩面12項缺陷檢測,單日處理量超過5000件 [3]。姑蘇區(qū)整套自動化缺陷檢測設(shè)備設(shè)備廠家
成像:按材質(zhì)特性配置光源參數(shù).姑蘇區(qū)整套自動化缺陷檢測設(shè)備設(shè)備廠家
回流焊前檢查是在元件貼放在板上錫膏內(nèi)之后和PCB送入回流爐之前完成的。這是一個典型地放置檢查機器的位置,因為這里可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷以及機器貼放的大多數(shù)缺陷。在這個位置產(chǎn)生的定量的過程控制信息,提供高速片機和密間距元件貼裝設(shè)備校準(zhǔn)的信息。這個信息可用來修改元件貼放或表明貼片機需要校準(zhǔn)。這個位置的檢查滿足過程跟蹤的目標(biāo)?;亓骱负笤赟MT工藝過程的***步驟進行檢查,這是AOI當(dāng)下流行的選擇,因為這個位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯誤。回流焊后檢查提供高度的安全性,因為它識別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。姑蘇區(qū)整套自動化缺陷檢測設(shè)備設(shè)備廠家
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