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印刷圖案圖3所有印有圖案的PCB也是能夠被檢查的,例如,當元 器件的邊框或元器件本體上的字母單獨出現(xiàn)在組件的某個 區(qū)域從而干擾對其他部分的檢查時,可以手工調整檢查程 序。盡管如此,在生產允許的范圍內,圖案的印刷范圍仍 然有一個較大的選擇,因此,減少非反射性標識印刷(黑 或暗黃)值得加以考慮。另外一個可能出現(xiàn)的情況是需要 有選擇地印刷標識:例如,當某些特定的器件(如霍爾傳 感器)正面向下時就必須印刷成白色;而另一種情況是印 有極性標志的有傾斜角的鉭電容器件;這樣能使標識和背 景形成鮮明的對比,使得檢查的圖像更加清晰?;亓骱负髾z查提供高度的安全性,因為它識別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。太倉銷售自動化缺陷檢測設備銷售廠

因此,QFN的 焊盤設計建議為:焊盤伸出于器件引腳的外端, 而縮進于器件的內 端,這樣使得在器件引腳的內外形成彎月型焊盤。在這里 很重要的一點是,在進行設計計算時必須考慮器件的公差范圍。(圖9)BGA 設計圖10在BGA設計時,焊點的形狀(如淚滴型)可以通過特 別的布局使其成為可見的;就是說,淚滴型的焊點除了具 有奇怪的形狀外,它的方向也是很隨意的。總而言之,在 器件面的焊盤和在PCB上的焊盤正好和BGA焊球的大小是 一樣的(圖10 )。在德國Erlangen 大學,學者做了大量的 研究去評價單個焊盤形狀的模型;他們發(fā)現(xiàn),無論焊盤是 圓形還是非圓形的,焊膏印刷圖形要保持為圓形不變。工業(yè)園區(qū)銷售自動化缺陷檢測設備銷售價格決定哪里放置AOI需要認識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計劃內。

AOI(Automated Optical Inspection縮寫)的中文全稱是自動光學檢測,是基于光學原理來對焊接生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備。AOI是新興起的一種新型測試技術,但發(fā)展迅速,很多廠家都推出了AOI測試設備。當自動檢測時,機器通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來,供維修人員修整。 [1]運用高速高精度視覺處理技術自動檢測PCB板上各種不同貼裝錯誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測方案,以提高生產效率,及焊接質量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。
缺陷類型:微粒缺陷(如異物污染)圖形缺陷(如光刻圖案偏移) [1-3]2.檢測精度:可實現(xiàn)0.2微米級缺陷的識別,滿足45納米工藝節(jié)點的質量控制需求 [1-3]。吞吐量:每小時處理20片300毫米晶圓(基于2021年技術標準) [1] [3]適用工藝:45納米及更高制程的集成電路制造 [1-3]主要用于半導體制造環(huán)節(jié)的在線缺陷檢測,覆蓋晶圓前道制程中的關鍵工藝步驟,確保芯片良率與可靠性 [1-3]。上海集成電路研發(fā)中心有限公司自2011年起使用KLA-Tencor Puma9150型號設備(截至2020年),同期配備頻譜分析儀、晶邊缺陷檢查設備等科研儀器 [2-3]。如果錫膏印刷過程滿足要求,那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。

無鉛焊接帶來的變化可以從三個方面看到無鉛的影響:灰度值提高、流程的改變和有效的助焊劑。無鉛焊點的亮度平均值高了2.5%。這相當于亮度提高了五級。焊點看上去粗糙,而且表面呈粗大的顆粒狀。這可以利用特性萃取方法來消除或者過濾掉。流動性稍微差一些,特別是對于那些較輕的元件,會妨礙元件在熔化焊膏中浸沒或者浮起。這表示元件自動對正的程度較差。由于效果差,意味著輕輕的0402元件沿著縱向翹起的傾向會增強,結果是不能完全看到元件的頂部。微的少錫很少導致缺陷,而嚴重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。江蘇一體化自動化缺陷檢測設備批量定制
早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。太倉銷售自動化缺陷檢測設備銷售廠
LS(Lead Scan的縮寫)是半導體封裝后段制程中用于集成電路(IC)外觀缺陷自動化檢測的關鍵設備,涵蓋晶圓切割、焊線鍵合、芯片封裝等多環(huán)節(jié)的質量控制。該設備采用激光散射與暗場成像技術,可識別23nm級顆粒污染、劃痕及鍵合參數(shù)異常,檢測貫穿硅片認證、生產過程控片檢測等全流程。主流設備型號包括ICOS品牌的LS-7700和Hitachi High-Tech的LS系列,其技術指標與切割砂輪規(guī)格、封裝檢驗標準深度關聯(lián)。隨著7nm以下先進制程占比提升,LS類設備的資本開支占比已超過20%,成為保障車規(guī)級芯片可靠性的**環(huán)節(jié) [1]。太倉銷售自動化缺陷檢測設備銷售廠
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