芯片測試中發(fā)現(xiàn)“功能失效”但無法定位具體原因怎么辦？

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杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-10-05

當(dāng)遇到功能失效但難以定位具體原因時，可以采用逐步排除法、故障注入測試或邊界掃描測試等方法進行故障定位。此外，還可以利用專業(yè)的故障分析工具和經(jīng)驗豐富的測試工程師來協(xié)助診斷問題。

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簡介：高性能半導(dǎo)體/電子測試系統(tǒng)提供商，為芯片/新能源/LED/醫(yī)療等領(lǐng)域提供測試解決方案與產(chǎn)品

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