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遺失登報(bào)聲明
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遺失登報(bào)聲明有什么用?
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上海擎奧利用先進(jìn)的材料分析設(shè)備,對(duì) LED 失效過(guò)程中的材料變化進(jìn)行深入研究,為失效原因的判定提供科學(xué)依據(jù)。在分析過(guò)程中,團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì) LED 的芯片、封裝膠、支架、焊點(diǎn)等材料進(jìn)行成分分析、結(jié)構(gòu)分析和性能測(cè)試,檢測(cè)其在失效前后的物理和化學(xué)性質(zhì)變化,如封裝膠的老化程度、芯片的晶格缺陷、焊點(diǎn)的合金成分變化等。通過(guò)這些微觀層面的分析,能夠精確確定導(dǎo)致 LED 失效的材料因素,如材料老化、材料性能不達(dá)標(biāo)、材料之間的兼容性問(wèn)題等?;诜治鼋Y(jié)果,為客戶提供材料選型、材料處理工藝改進(jìn)等方面的建議,幫助客戶從材料源頭提升 LED 產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。封裝膠體存在氣泡,降低膠體密封性,使芯片易受潮損壞。常州氯化LED失效分析金線斷裂

LED 封裝工藝對(duì)產(chǎn)品的性能和可靠性有著很重要的影響,上海擎奧針對(duì) LED 封裝工藝缺陷導(dǎo)致的失效問(wèn)題開(kāi)展專項(xiàng)分析服務(wù)。團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì)封裝過(guò)程中的各個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行細(xì)致排查,如芯片粘結(jié)、引線鍵合、封裝膠灌封等,通過(guò)先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備觀察封裝結(jié)構(gòu)的微觀形貌,分析可能存在的缺陷,如氣泡、裂紋、粘結(jié)不牢等。結(jié)合環(huán)境測(cè)試數(shù)據(jù),研究這些封裝缺陷在不同環(huán)境條件下對(duì) LED 性能的影響,如高溫高濕環(huán)境下封裝膠開(kāi)裂導(dǎo)致的水汽侵入,引起芯片失效等。通過(guò)深入分析,明確封裝工藝中存在的問(wèn)題,并為企業(yè)提供封裝工藝改進(jìn)的具體方案,提高 LED 產(chǎn)品的封裝質(zhì)量和可靠性。上海國(guó)內(nèi)LED失效分析產(chǎn)業(yè)LED出現(xiàn)死燈現(xiàn)象,通電后完全不發(fā)光,影響整體照明效果。

在軌道交通照明用 LED 的失效分析中,擎奧檢測(cè)的行家團(tuán)隊(duì)展現(xiàn)出獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。軌道交通場(chǎng)景對(duì) LED 的耐振動(dòng)、寬溫適應(yīng)性要求極高,一旦出現(xiàn)失效可能影響行車安全。擎奧檢測(cè)通過(guò)模擬軌道車輛的振動(dòng)頻率和溫度波動(dòng)范圍,加速 LED 的失效過(guò)程,再利用材料分析設(shè)備檢測(cè) LED 內(nèi)部的焊點(diǎn)、封裝膠等部件的狀態(tài),精確定位如引線疲勞斷裂、封裝膠開(kāi)裂等失效原因,并提供針對(duì)性的改進(jìn)建議。面對(duì)照明電子領(lǐng)域常見(jiàn)的 LED 光衰失效,擎奧檢測(cè)建立了科學(xué)的分析體系。光衰是 LED 長(zhǎng)期使用中的典型問(wèn)題,與芯片發(fā)熱、封裝材料老化、散熱設(shè)計(jì)缺陷等密切相關(guān)。實(shí)驗(yàn)室通過(guò)對(duì)失效 LED 進(jìn)行光譜曲線測(cè)試,對(duì)比初始參數(shù)找出光衰規(guī)律,同時(shí)利用熱阻測(cè)試設(shè)備分析散熱路徑的合理性,結(jié)合材料分析團(tuán)隊(duì)對(duì)封裝硅膠、熒光粉的成分檢測(cè),判斷是否存在材料熱老化或變質(zhì)問(wèn)題,為客戶提供優(yōu)化散熱結(jié)構(gòu)、選用耐溫材料等切實(shí)可行的解決方案。
在上海浦東新區(qū)金橋開(kāi)發(fā)區(qū)的擎奧檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室里,先進(jìn)的材料分析設(shè)備正在為 LED 失效分析提供精確的支撐。針對(duì) LED 產(chǎn)品常見(jiàn)的光衰、色溫偏移等問(wèn)題,實(shí)驗(yàn)室通過(guò)掃描電子顯微鏡(SEM)觀察芯片焊點(diǎn)微觀結(jié)構(gòu),結(jié)合能譜儀(EDS)分析金屬遷移現(xiàn)象,可以快速的定位失效根源。2500 平米的檢測(cè)空間內(nèi),恒溫恒濕箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱等環(huán)境測(cè)試設(shè)備模擬 LED 在不同工況下的不同工作狀態(tài),配合光譜儀實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光參數(shù)變化,為失效機(jī)理研究提供完整數(shù)據(jù)鏈。擎奧檢測(cè)具備 LED 快速失效分析技術(shù)能力。

照明電子領(lǐng)域的 LED 產(chǎn)品種類繁多,應(yīng)用場(chǎng)景較廣,失效原因也較為復(fù)雜,上海擎奧能為照明電子企業(yè)提供定制化的 LED 失效分析服務(wù)。針對(duì)不同類型的照明 LED,如室內(nèi)照明、戶外照明、景觀照明等,公司會(huì)根據(jù)其使用環(huán)境和性能要求制定個(gè)性化的分析方案。團(tuán)隊(duì)通過(guò)先進(jìn)的設(shè)備測(cè)定 LED 的光通量、色溫、顯色指數(shù)等光學(xué)參數(shù)變化,結(jié)合材料分析確定失效的化學(xué)和物理原因,如戶外照明 LED 因雨水侵蝕導(dǎo)致的短路、室內(nèi)照明 LED 因散熱不良引起的光衰等。同時(shí),結(jié)合產(chǎn)品的全生命周期數(shù)據(jù),為企業(yè)提供產(chǎn)品改進(jìn)和質(zhì)量提升的專業(yè)建議,助力照明電子企業(yè)提升產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。LED失效分析表明,過(guò)電流沖擊會(huì)加速金線熔斷,引發(fā)燈珠死燈。上海國(guó)內(nèi)LED失效分析產(chǎn)業(yè)
LED發(fā)光顏色發(fā)生偏移,如原本白色變成微黃或微藍(lán),色純度差。常州氯化LED失效分析金線斷裂
針對(duì)高溫高濕環(huán)境下的 LED 失效,擎奧檢測(cè)的環(huán)境測(cè)試艙可模擬 85℃/85% RH 的極端條件,進(jìn)行長(zhǎng)達(dá) 1000 小時(shí)的加速老化試驗(yàn)。通過(guò)定期采集光通量、色坐標(biāo)等參數(shù),工程師發(fā)現(xiàn)硅膠黃變、金線腐蝕是導(dǎo)致性能衰減的主要原因。實(shí)驗(yàn)室引進(jìn)的氣相色譜 - 質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)可分析封裝材料的揮發(fā)物成分,結(jié)合腐蝕產(chǎn)物的能譜分析,終鎖定特定添加劑與金屬電極的化學(xué)反應(yīng)機(jī)理,為材料替代提供科學(xué)依據(jù)。在汽車前大燈 LED 的失效分析中,擎奧檢測(cè)特別關(guān)注振動(dòng)與溫度沖擊的復(fù)合影響。實(shí)驗(yàn)室的三綜合測(cè)試系統(tǒng)(溫度 - 濕度 - 振動(dòng))可模擬車輛行駛中的復(fù)雜工況,通過(guò)應(yīng)變片監(jiān)測(cè)燈體結(jié)構(gòu)應(yīng)力分布。測(cè)試發(fā)現(xiàn),LED 支架與散熱器的連接松動(dòng)會(huì)導(dǎo)致熱阻急劇上升,進(jìn)而引發(fā)芯片結(jié)溫過(guò)高失效。行家團(tuán)隊(duì)結(jié)合汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) ISO 16750,制定了包含 12 項(xiàng)指標(biāo)的專項(xiàng)檢測(cè)方案,已成為多家車企的指定分析機(jī)構(gòu)。常州氯化LED失效分析金線斷裂