國(guó)產(chǎn)MCU賦能低空經(jīng)濟(jì)發(fā)展
關(guān)于雅特力助力關(guān)節(jié)運(yùn)動(dòng)
維特比算法與DSP芯片——解碼噪聲中的“比較好路徑”
2025年關(guān)于麥歌恩動(dòng)態(tài)
雅特力推出新系列微控制器:AT32F455/F456/F45
雅特力科技助力宇樹(shù)科技推動(dòng)智慧機(jī)器人創(chuàng)新應(yīng)用
雅特力AT32 Workbench煥“芯”升級(jí)!
雅特力科技助力宇樹(shù)科技推動(dòng)智慧機(jī)器人創(chuàng)新應(yīng)用
矽??萍极@TüV萊茵 ISO 26262 認(rèn)證
國(guó)產(chǎn)芯片產(chǎn)業(yè)加速發(fā)展,技術(shù)創(chuàng)新與市場(chǎng)機(jī)遇并存
在半導(dǎo)體制造行業(yè),光學(xué)透鏡廣泛應(yīng)用于光刻等關(guān)鍵工藝,其質(zhì)量直接影響芯片的制造精度和性能。光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用,有效識(shí)別并分類(lèi)各種表面缺陷,保障了光學(xué)透鏡在半導(dǎo)體制造過(guò)程中的可靠性。從晶圓檢測(cè)到封裝測(cè)試等環(huán)節(jié),該設(shè)備都發(fā)揮著不可或缺的作用。例如,在檢測(cè)芯片制造過(guò)程中使用的光學(xué)透鏡時(shí),能夠快速發(fā)現(xiàn)可能影響光刻精度的微小劃痕、雜質(zhì)等缺陷,避免因透鏡缺陷導(dǎo)致芯片制造出現(xiàn)偏差,提高芯片制造的良品率,推動(dòng)半導(dǎo)體行業(yè)向更高精度、更高集成度的方向發(fā)展。江蘇優(yōu)普納科技的光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備,采用高分辨率成像,精確識(shí)別亞微米級(jí)劃痕、氣泡等缺陷,提升良率。亞表面高精度光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

投影儀作為一種常用的顯示設(shè)備,其光學(xué)透鏡的質(zhì)量影響著投影畫(huà)面的清晰度、色彩還原度等關(guān)鍵指標(biāo)。光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備在投影儀光學(xué)透鏡的生產(chǎn)和質(zhì)量管控中發(fā)揮著重要作用。它能夠檢測(cè)出透鏡的各種缺陷,如色差、球差等,這些缺陷會(huì)導(dǎo)致投影畫(huà)面出現(xiàn)模糊、色彩偏差等問(wèn)題。通過(guò)對(duì)投影儀光學(xué)透鏡的嚴(yán)格檢測(cè),生產(chǎn)廠家可以提高產(chǎn)品質(zhì)量,為用戶(hù)提供更好的投影體驗(yàn),無(wú)論是在商務(wù)辦公、家庭娛樂(lè)還是教育教學(xué)等場(chǎng)景中,都能確保投影儀輸出高質(zhì)量的畫(huà)面,滿足不同用戶(hù)的需求。亞表面高精度光學(xué)檢測(cè)設(shè)備江蘇優(yōu)普納科技的透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備,支持?jǐn)?shù)據(jù)云端存儲(chǔ),便于遠(yuǎn)程監(jiān)控與分析。

模壓玻璃鏡片在熱成型階段極易出現(xiàn)水縮、斷層等隱性缺陷,傳統(tǒng) AOI 無(wú)法分辨。優(yōu)普納裝備采用自研 2.5D 光源,通過(guò)多分區(qū)環(huán)光+側(cè)光組合,將亞微米級(jí)斷層高度信息轉(zhuǎn)化為可量化灰度差異;12MP 相機(jī)以 7 μm 分辨率精確捕捉,AI 算法再對(duì) 6000 萬(wàn)張缺陷圖庫(kù)進(jìn)行比對(duì),漏檢率低于 0.1%。設(shè)備兼容直徑 7-20 mm、全高 0.7-15 mm 鏡片,無(wú)需更換治具即可檢測(cè) 55° 以?xún)?nèi)張角的非球面。500-1000 UPH 的節(jié)拍讓模壓車(chē)間在保持單機(jī)產(chǎn)能的同時(shí),實(shí)現(xiàn)“每片必檢”,明顯降低客戶(hù)端客訴風(fēng)險(xiǎn)。
智能安防監(jiān)控系統(tǒng)中的光學(xué)鏡頭同樣依賴(lài)光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備來(lái)保障質(zhì)量。在安防監(jiān)控領(lǐng)域,清晰、準(zhǔn)確的圖像采集至關(guān)重要,而光學(xué)透鏡的質(zhì)量直接影響圖像的清晰度和穩(wěn)定性。檢測(cè)設(shè)備能夠?qū)τ糜诎卜辣O(jiān)控鏡頭的光學(xué)透鏡進(jìn)行嚴(yán)格檢測(cè),發(fā)現(xiàn)諸如鏡片表面的污漬、內(nèi)部的應(yīng)力不均等可能影響成像質(zhì)量的缺陷。通過(guò)及時(shí)剔除有缺陷的透鏡,保證安防監(jiān)控系統(tǒng)能夠穩(wěn)定、清晰地采集圖像,為公共安全提供有力的技術(shù)支持,讓安防監(jiān)控設(shè)備更好地發(fā)揮其守護(hù)社會(huì)安全的作用。江蘇優(yōu)普納科技的缺陷檢測(cè)儀,具備聲光報(bào)警功能,實(shí)時(shí)提醒不良品檢出。

光學(xué)鏡片在注塑、模壓、鍍膜、膠合多工藝流轉(zhuǎn),缺陷類(lèi)型層出不窮。優(yōu)普納裝備通過(guò) 7 μm 分辨率+12MP 相機(jī)+2.5D 光源,建立“缺陷基因庫(kù)”,對(duì)劃痕、麻點(diǎn)、白跡、臟污、霧氣、氣泡、水縮等 10個(gè)大類(lèi) 200 余小類(lèi)缺陷進(jìn)行 AI 分類(lèi)。轉(zhuǎn)盤(pán)式單顆檢測(cè)讓每片鏡片擁有特定 ID,缺陷坐標(biāo)、光學(xué)參數(shù)、工藝參數(shù)全程可追溯。100+ 件號(hào)配方支持跨工藝共線;數(shù)據(jù)報(bào)表可一鍵對(duì)接 MES/ERP。鏡片外觀檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)往往存在振動(dòng)、粉塵、溫濕度波動(dòng),影響成像穩(wěn)定性。優(yōu)普納裝備整機(jī)采用大理石基座+主動(dòng)隔振設(shè)計(jì),將外界振動(dòng)衰減 95%;2.5D 光源內(nèi)置恒溫系統(tǒng),光強(qiáng)波動(dòng)<1%;12MP 相機(jī)配置工業(yè)級(jí)防塵罩,可在 Class 1000 潔凈室外穩(wěn)定運(yùn)行。轉(zhuǎn)盤(pán)式單顆檢測(cè)結(jié)構(gòu)封閉,鏡片全程不落地,避免二次污染。江蘇優(yōu)普納科技的自動(dòng)質(zhì)檢機(jī),支持鍍膜前后全周期檢測(cè),確保光學(xué)元件品質(zhì)一致性。標(biāo)準(zhǔn)化高精度光學(xué)檢測(cè)設(shè)備廠家
江蘇優(yōu)普納科技的透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備,搭載深度學(xué)習(xí)算法,自動(dòng)分類(lèi)劃痕、麻點(diǎn)等缺陷類(lèi)型。亞表面高精度光學(xué)檢測(cè)設(shè)備
江蘇優(yōu)普納科技有限公司傾力打造的光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)裝備,以1200×900×1600 mm的緊湊機(jī)身集成12 MP高分辨率相機(jī)、自主2.5D多分區(qū)環(huán)光及亞微米級(jí)成像系統(tǒng),可在500-1000 UPH節(jié)拍內(nèi)對(duì)直徑7-20 mm、厚度0.7-15 mm、張角55°以?xún)?nèi)的各類(lèi)非球面玻璃鏡片完成劃痕、麻點(diǎn)、氣泡、水縮等十余類(lèi)缺陷的全檢。轉(zhuǎn)盤(pán)式單顆檢測(cè)結(jié)構(gòu)讓每片鏡片單獨(dú)流轉(zhuǎn),上料、正面檢測(cè)、背面檢測(cè)、下料四工位并行作業(yè),換型時(shí)只需調(diào)用100+配方庫(kù)即可3分鐘完成,真正做到“零調(diào)機(jī)、零等待”。無(wú)論是車(chē)載ADAS高安全需求,還是醫(yī)療光學(xué)零缺陷標(biāo)準(zhǔn),優(yōu)普納都以7 μm真實(shí)分辨率與深度學(xué)習(xí)算法,為每一枚精密光學(xué)元件提供可靠品質(zhì)保障。亞表面高精度光學(xué)檢測(cè)設(shè)備