暗場圖6 光學(xué)金相顯微術(shù)采用了從物鏡外斜射照明，使樣品的鏡面呈現(xiàn)暗的視野，使表面上的 微小浮凸的反射光產(chǎn)生足夠大的對比而被顯示出來。如浮凸顆粒是透明或半透明的，經(jīng)內(nèi)界面漫反射的光亦將進(jìn)入物鏡。這對金屬和合金材料中的微缺陷和非金屬夾雜物的鑒定分析是很有用的。例如圖6表示利用奧氏體晶界腐刻后在內(nèi)界面處形成溝壕使光產(chǎn)生漫反射，從而勾畫出晶粒的形狀。特殊分析方法光學(xué)金相顯微鏡除利用垂直反射光的振幅信息反射成像外；還可利用在特殊照明條件下產(chǎn)生的不同的光學(xué)信息來顯示樣品中的組織組成物，它們的發(fā)展為光學(xué)金相顯微術(shù)增添了一系列的特殊分析方法（圖3）。金相顯微鏡電子目鏡是一種針對金相顯微鏡成像專門研制而成的光學(xué)電子儀器。如東直銷金相顯微鏡貨源充足

偏振光顯微術(shù)光學(xué)金相顯微術(shù)主要特點是利用平面偏振光照射到試樣表面上，考察目的物對平面偏振光的 橢圓化效應(yīng)。這種效應(yīng)可反映目的物有關(guān)光學(xué)對稱性的信息，從而判斷它是晶體各向同性或各向異性。照明用的平面偏振光經(jīng)起偏鏡得到；橢圓化效應(yīng)則用檢偏鏡檢查。它主要應(yīng)用于辨認(rèn)各向異性晶體不同取向的區(qū)域，或透明夾雜物的******顏色。如果在垂直照明器和檢偏鏡之間放入一個靈敏色輝板，樣品的各個晶粒就可以由它們的特征顏色辨認(rèn)。色輝板可以用來測定晶體擇優(yōu)取向程度并進(jìn)行回復(fù)和再結(jié)晶的研究，也可以對多相合金進(jìn)行相分析及對非金屬夾雜物進(jìn)行鑒定。在特定條件下還可以研究磁疇結(jié)構(gòu)。海門區(qū)直銷金相顯微鏡廠家供應(yīng)這種設(shè)計不僅提高了系統(tǒng)的靈活性，還降低了用戶的維護(hù)成本。

(6) 一次充電連續(xù)工作不低于6—8小時(7) 具有實時電量顯示和提醒功能(8) 具備防塵防碰撞，采用工程塑料外殼可折疊手提或肩挎便攜性能好二、圖像采集器：采用1/2″900萬像素工業(yè)CCD成像器，配有金相和宏觀探傷兩種光路傳輸系統(tǒng)可輸出同軸光和環(huán)形光，具有LED光源接口USB接口SD卡存儲等功能。連接鏡頭后可以正置或倒置使用。三、鏡頭：1、總放大倍率100-1000倍2、金相鏡頭有**的光路接口，也可用眼睛直接觀察。3、鏡頭配有吸盤或支架4、各種鏡頭有**的焦距微調(diào)功能

光學(xué)系統(tǒng)：1、物境倍數(shù)：5X 10X 20X 50X 100X2、目鏡倍數(shù)：10X3、視場數(shù)：20、224、物鏡轉(zhuǎn)盤：5孔5、觀察功能：明場、暗場、簡易偏光、微分干涉6、光源：LED光源金相顯微鏡7、可擴展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機、攝像頭、圖像分析軟件） [1-2]金相顯微鏡：1、金相顯微鏡2、適配鏡 3、攝像頭（CCD） 4、圖像采集軟件 5、計算機 [1-2]金相學(xué)主要指借助光學(xué)（金相）顯微鏡和體視顯微鏡等對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進(jìn)行分析研究和表征的材料學(xué)科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準(zhǔn)備和取樣方法。其主要反映和表征構(gòu)成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯）的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。更換鹵素?zé)魰r要注意高溫，以免灼傷；注意不要用手直接接觸鹵素?zé)舻牟Ａw。

金屬顯微組織檢驗又稱金相檢驗，是通過光學(xué)金相顯微鏡或電子顯微鏡觀察分析金屬材料微觀組織的檢測方法，相關(guān)操作遵循GB/T 13298-2015標(biāo)準(zhǔn) [1]。該方法涵蓋晶粒度測定等項目，其中晶粒度評定采用腐蝕法與標(biāo)準(zhǔn)圖譜對比 [3]。檢驗中需根據(jù)材質(zhì)選用硝酸酒精溶液 [4]、Murakami試劑進(jìn)行浸蝕，特殊組織處理可采用電解拋光 [2]。應(yīng)用領(lǐng)域包括焊接檢驗、鑄鐵檢驗、熱處理質(zhì)量評定及鈦合金缺陷鑒別 [5]。硬質(zhì)合金檢驗需使用≥1500倍顯微鏡，試樣制備含冷/熱鑲樣、逐級精磨及多步驟拋光流程 [2]分劃值為0.01mm的分劃尺，其任意兩劃線間的極限偏差為±0.005mm。如東重型金相顯微鏡廠家供應(yīng)

前后左右移動載物臺，觀察試樣的不同部位，以便并找到代表性的顯微組織。如東直銷金相顯微鏡貨源充足

干涉顯微術(shù)圖7 光學(xué)金相顯微術(shù)示意如圖7。其特點是在顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)中增加了特殊設(shè)計的光學(xué)裝置，使光線 通過時被分成兩束，一束光通過物鏡，在試樣上反射返回，重新穿過光束分離器進(jìn)入目鏡；另一束光從一個比較板上反射進(jìn)入目鏡。這兩束反射光在光束分離器上相遇時會發(fā)生干涉，利用所產(chǎn)生的干涉條紋的形狀，可以判斷輕微浮凸的空間形態(tài)，并可根據(jù)條紋位移量和相鄰條紋間距之比，定量給出浮凸高度。多光束干涉的發(fā)展，使干涉條紋更為窄銳，從而提高了測量高度差的靈敏度（見馬氏體相變中的圖3、圖6）。如東直銷金相顯微鏡貨源充足

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