對國產(chǎn)車而言，其自研車規(guī)級MCU（微控制器）與功率半導體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業(yè)**嚴苛的可靠性認證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強振動、長期高負載等惡劣環(huán)境下仍能穩(wěn)定運行十年以上。國磊GT600SoC測試機正是這一“車規(guī)級體檢”的關鍵設備。其每通道PPMU（精密參數(shù)測量單元）可精細測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別芯片內部微小缺陷或工藝波動導致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質虛弱”的芯片；同時支持引腳級開路/短路測試，確保封裝無瑕疵。更關鍵的是，國磊GT600可選配浮動SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證MCU在電壓波動、負載突變等真實工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測試（Burn-in）接口，可配合溫控系統(tǒng)進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產(chǎn)車構建從研發(fā)到量產(chǎn)的高可靠測試閉環(huán)，守護每一程出行安全。 國磊GT600SoC測試機AWG/Digitizer支持20/24bit分辨率，滿足高精度ADC/DAC類HBM輔助電路測試需求。GEN測試系統(tǒng)研發(fā)公司

AISoC的NPU模塊不**需要功能驗證，更需精確的參數(shù)測試與功耗評估。國磊GT600測試機配備每通道PPMU，可實現(xiàn)nA級靜態(tài)電流（IDDQ）測量，**識別AI芯片在待機、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動SMU板卡，支持多電源域**供電與電流監(jiān)測，用于驗證DVFS（動態(tài)電壓頻率調節(jié)）和電源門控（PowerGating）策略的有效性。此外，國磊GT600測試機的GT-TMUHA04時間測量單元提供10ps分辨率，可精確測量NPU喚醒延遲、中斷響應時間等關鍵時序參數(shù)，確保AI任務的實時性與響應速度。PCB測試系統(tǒng)工藝國磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG與Digitizer板卡，可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等參數(shù)測試。

Chiplet時代的“互聯(lián)驗證者” Chiplet（芯粒）技術通過將大芯片拆分為小芯片再集成，突破摩爾定律瓶頸，成為先進制程的重要方向。然而，小芯片間的高速互聯(lián)（如UCIe）對信號完整性、功耗、時序提出極高要求。杭州國磊GT600憑借400MHz測試速率與100ps邊沿精度，可精確測量Chiplet間接口的信號延遲與抖動。其高精度SMU可驗證微凸塊（Micro-bump）的供電穩(wěn)定性，檢測微小電壓降。PPMU則用于測量封裝后各芯粒的**功耗，確保能效優(yōu)化。杭州國磊GT600的模塊化設計也便于擴展，可針對不同芯粒配置**測試板卡。在Chiplet技術快速發(fā)展的***，杭州國磊GT600以高精度互聯(lián)驗證能力，為國產(chǎn)先進封裝芯片的可靠性與性能保駕護航。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統(tǒng)本質上是一款面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發(fā)展的背景下，國磊SoC測試系統(tǒng)確實可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數(shù)驗證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運行。 國磊GT600可使用AWG生成模擬輸入信號，Digitizer捕獲輸出，計算INL、DNL、SNR、THD等指標。

AI大模型芯片的“算力守門人” 在AI大模型驅動算力**的***，國產(chǎn)AI芯片（如寒武紀、壁仞）正加速替代英偉達GPU。然而，這些芯片內部集成了數(shù)千個AI**與高速互聯(lián)總線，其功能復雜度與功耗控制要求極高。杭州國磊GT600 SoC測試機憑借400MHz測試速率與128M向量深度，可完整運行復雜的AI推理算法測試向量，驗證NPU在真實負載下的計算精度與吞吐能力。其高精度PPMU能精確測量芯片在待機、輕載、滿載等多場景下的動態(tài)電流，確?！懊客咛厮懔Α边_標。同時，杭州國磊GT600支持512站點并行測試，大幅提升量產(chǎn)效率，降低單顆芯片測試成本，為AI芯片大規(guī)模部署數(shù)據(jù)中心提供堅實支撐?？梢哉f，杭州國磊GT600不僅是AI芯片的“質檢員”，更是其從實驗室走向萬卡集群的“量產(chǎn)加速器”。電壓上升速度快，100V只需2毫秒！國產(chǎn)GEN3測試系統(tǒng)批發(fā)

國磊GT600SoC測試機是國產(chǎn)低功耗芯片實現(xiàn)“高性能+長續(xù)航”目標的關鍵測試基礎設施。GEN測試系統(tǒng)研發(fā)公司

    杭州國磊GT600SoC測試機之所以特別適用于高?？蒲袌鼍?，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價比，完美契合高校在芯片教學、科研探索與原型驗證中的獨特需求。首先，高度開放的軟件生態(tài)是科研創(chuàng)新的基礎。GT600搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發(fā)環(huán)境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調試和優(yōu)化測試程序，靈活實現(xiàn)各類新型芯片架構（如RISC-V、存算一體、類腦計算）的功能驗證。這種開放性極大激發(fā)了學生的工程實踐能力與教師的科研創(chuàng)造力。其次，模塊化硬件架構支持多樣化實驗需求。GT600提供16個通用插槽，可自由混插數(shù)字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構建從純數(shù)字邏輯到混合信號的完整測試平臺。無論是驗證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進工藝下的漏電特性，GT600都能“一機多用”，避免高校重復采購多臺**設備，***提升設備利用率。第三，高精度測量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測nA級電流，TMU時間分辨率達10ps，適用于FinFET、GAA等先進工藝下低功耗器件的特性表征。 GEN測試系統(tǒng)研發(fā)公司