智能駕駛對(duì)高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級(jí)自動(dòng)駕駛技術(shù)的快速演進(jìn)，車載計(jì)算平臺(tái)對(duì)SoC（系統(tǒng)級(jí)芯片）的性能、可靠性與實(shí)時(shí)性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規(guī)劃與決策控制等復(fù)雜任務(wù)。然而，如此復(fù)雜的芯片架構(gòu)對(duì)測試環(huán)節(jié)構(gòu)成了巨大挑戰(zhàn)。杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)憑借高達(dá)400 MHz的測試速率、512至2048個(gè)數(shù)字通道以及每通道高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗(yàn)證階段所需的高并發(fā)、高精度測試場景，為芯片從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)提供堅(jiān)實(shí)保障。國磊GT600SoC測試機(jī)可以進(jìn)行電源門控測試即驗(yàn)證PowerGating開關(guān)的漏電控制效果。長沙PCB測試系統(tǒng)定制價(jià)格

當(dāng)前，AI大模型與高性能計(jì)算正以前所未有的速度推動(dòng)HBM（高帶寬存儲(chǔ)器）技術(shù)爆發(fā)式增長。HBM3、HBM3E成為英偉達(dá)、AMD、華為等巨頭AI芯片的標(biāo)配，全球需求激增，市場缺口持續(xù)擴(kuò)大。然而，HBM不**改變了芯片架構(gòu)，更對(duì)后端測試提出了前所未有的挑戰(zhàn)——高引腳數(shù)、高速接口、復(fù)雜時(shí)序與電源完整性要求，使得傳統(tǒng)測試設(shè)備難以勝任。國磊GT600測試機(jī)應(yīng)勢(shì)而生，專為應(yīng)對(duì)HBM時(shí)代**SoC測試難題而設(shè)計(jì)。它不是直接測試HBM芯片，而是**服務(wù)于“集成了HBM的AI/GPU芯片”的功能驗(yàn)證與量產(chǎn)測試，成為國產(chǎn)**ATE在HBM浪潮中的關(guān)鍵支撐力量，助力中國芯突破“內(nèi)存墻”背后的“測試墻”。絕緣電阻測試系統(tǒng)研發(fā)中心國磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG與Digitizer板卡，可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等參數(shù)測試。

靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構(gòu) 當(dāng)前智能駕駛SoC廠商采用異構(gòu)計(jì)算架構(gòu)，不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協(xié)議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個(gè)通用插槽，支持?jǐn)?shù)字、模擬及混合信號(hào)板卡任意組合，并兼容多種VI浮動(dòng)電源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出）。這種高度模塊化的設(shè)計(jì)使測試平臺(tái)能快速適配英偉達(dá)Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構(gòu)芯片的測試需求，無需為每款芯片重新開發(fā)整套測試硬件，***提升測試系統(tǒng)的復(fù)用率與投資回報(bào)率。

    MEMS麥克風(fēng)消費(fèi)電子中***采用的數(shù)字/模擬MEMS麥克風(fēng)，內(nèi)部包含聲學(xué)傳感MEMS結(jié)構(gòu)與低噪聲前置放大器ASIC。關(guān)鍵指標(biāo)包括靈敏度、信噪比（SNR）、總諧波失真（THD）和AOP（聲學(xué)過載點(diǎn)）。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：GT-AWGLP02AWG板卡生成純凈1kHz正弦激勵(lì)（THD<-122dB）；高分辨率Digitizer采集輸出信號(hào)，計(jì)算SNR與THD；支持I2S/PDM等數(shù)字音頻接口協(xié)議測試；可進(jìn)行多顆麥克風(fēng)并行測試（512Sites），滿足手機(jī)廠商大批量需求。壓力傳感器（氣壓/差壓/***壓力）用于可穿戴健康監(jiān)測（如血氧估算）、汽車胎壓監(jiān)測（TPMS）、工業(yè)過程控制等。其ASIC需處理pF級(jí)電容變化，并具備溫度補(bǔ)償與校準(zhǔn)功能。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：PPMU施加精確偏置電壓并測量微安級(jí)工作電流；AWG模擬不同壓力對(duì)應(yīng)的電容激勵(lì)信號(hào)；Digitizer采集校準(zhǔn)后數(shù)字輸出（如I2C讀數(shù)），驗(yàn)證線性度與零點(diǎn)漂移；支持高低溫環(huán)境下的參數(shù)漂移測試（配合溫控分選機(jī)）。 高達(dá)256通道的并行測試能力，GM8800極大提升您的檢測效率。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統(tǒng)本質(zhì)上是一款面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗(yàn)證的自動(dòng)測試設(shè)備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號(hào)測試。雖然該設(shè)備本身并非為量子計(jì)算設(shè)計(jì)，但在當(dāng)前科技融合加速發(fā)展的背景下，國磊SoC測試系統(tǒng)確實(shí)可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實(shí)用化的量子處理器（如超導(dǎo)量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學(xué)模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達(dá)-122dB）、24位混合信號(hào)測試能力及GT-TMUHA04時(shí)間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗(yàn)證這類量子控制芯片的信號(hào)保真度、時(shí)序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。 國磊GT600SoC測試機(jī)每通道32/64/128M向量存儲(chǔ)深度，支持復(fù)雜HBM協(xié)議Pattern的完整加載與執(zhí)行。東莞導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)參考價(jià)

GT600通過高采樣率動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測捕獲電流波形，若峰值電流超過安全閾值，可判定存在電源設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)。長沙PCB測試系統(tǒng)定制價(jià)格

AI眼鏡作為下一代智能終端，集成了**頭、語音交互、AR顯示與邊緣AI計(jì)算功能，其**是一顆高集成度的SoC芯片。這顆芯片需在極低功耗下運(yùn)行大模型推理、圖像處理與傳感器融合，對(duì)性能與可靠性提出***要求。國磊GT600等SoC測試機(jī)正是確保這類芯片“萬無一失”的關(guān)鍵。首先，AI眼鏡的SoC包含CPU、NPU、ISP、藍(lán)牙/WiFi基帶等多種模塊，屬于典型混合信號(hào)芯片。國磊GT600憑借可選配的AWG和TMU，能同時(shí)驗(yàn)證數(shù)字邏輯與模擬電路，確保攝像頭圖像清晰、無線連接穩(wěn)定、語音響應(yīng)及時(shí)。其次，AI眼鏡依賴電池供電，功耗控制極為敏感。國磊GT600的PPMU可精確檢測芯片的靜態(tài)漏電流（Iddq）和動(dòng)態(tài)功耗，篩選出“省電體質(zhì)”的芯片，直接決定眼鏡的續(xù)航能力。再者，AI眼鏡需7x24小時(shí)佩戴使用，可靠性至關(guān)重要。國磊GT600通過高溫老化測試、高速功能驗(yàn)證，提前發(fā)現(xiàn)潛在缺陷，避免用戶端出現(xiàn)死機(jī)、發(fā)熱等問題。AI眼鏡量產(chǎn)規(guī)模大，成本敏感。國磊GT600支持512站點(diǎn)并行測試，大幅提升效率，降低單顆芯片測試成本，助力產(chǎn)品上市。可以說，國磊GT600不僅可以做AI眼鏡SoC的“體檢官”，更能做其性能、續(xù)航與可靠性的“守門人”。在輕巧鏡架之下，正是這樣嚴(yán)苛的測試，讓“智能隨行”真正成為可能。 長沙PCB測試系統(tǒng)定制價(jià)格