GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量被電源門控關(guān)閉的模塊在“關(guān)斷狀態(tài)”下的漏電流。通過對比門控開啟與關(guān)閉時(shí)的電流差異，評估電源開關(guān)的隔離能力，確保未**模塊不會產(chǎn)生異常功耗。2.GT600支持可選配高精度浮動(dòng)SMU板卡，可為SoC的不同電源域提供**的電壓施加與電流監(jiān)測。在電源門控測試中，可通過SMU分別控制主電源與門控電源的開啟/關(guān)閉時(shí)序，驗(yàn)證電源域之間的依賴關(guān)系與上電順序，防止閂鎖或電壓倒灌。3.GT600配備GT-TMUHA04時(shí)間測量單元，提供10ps時(shí)間分辨率，用于測量從門控信號有效到目標(biāo)模塊恢復(fù)供電的時(shí)間、模塊喚醒后功能恢復(fù)的響應(yīng)延遲、確保電源門控機(jī)制在滿足低功耗要求的同時(shí)，不影響系統(tǒng)實(shí)時(shí)性。4.通過GTFY軟件系統(tǒng)與C++編程，工程師可編寫腳本實(shí)現(xiàn)循環(huán)執(zhí)行“上電→功能測試→門控關(guān)斷→延時(shí)→喚醒”流程；掃描不同關(guān)斷時(shí)長對喚醒成功率的影響；監(jiān)測多次開關(guān)操作后的電流一致性，評估可靠性。5.GT600支持高采樣率的動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流，避免因瞬時(shí)電流過大導(dǎo)致電壓塌陷或系統(tǒng)復(fù)位。結(jié)合Digitizer功能，記錄電壓/電流波形，用于分析電源穩(wěn)定性與去耦電容設(shè)計(jì)有效性。國磊GT600SoC測試機(jī)廣適用于AI、移動(dòng)、物聯(lián)網(wǎng)、汽車、工業(yè)等領(lǐng)域的SoC研發(fā)與量產(chǎn)驗(yàn)證。衡陽CAF測試系統(tǒng)市場價(jià)格

手機(jī)SoC的“全能考官” 現(xiàn)代手機(jī)SoC（如麒麟、澎湃）是高度集成的“微型超級計(jì)算機(jī)”，融合CPU、GPU、NPU、ISP、基帶等數(shù)十個(gè)模塊。杭州國磊GT600憑借512通道與16個(gè)通用插槽，可靈活配置數(shù)字、模擬、混合信號測試資源，實(shí)現(xiàn)“一機(jī)通測”。其高速數(shù)字通道驗(yàn)證CPU/GPU邏輯功能；可選AWG板卡生成圖像信號，測試ISP的色彩還原與降噪能力；TMU精確測量基帶信號時(shí)序，保障5G通信穩(wěn)定。PPMU則檢測NPU待機(jī)功耗，確保AI功能“強(qiáng)勁且省電”。128M向量深度支持長周期AI算法驗(yàn)證，避免測試中斷。杭州國磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的測試能力，為國產(chǎn)手機(jī)SoC從研發(fā)到量產(chǎn)保駕護(hù)航，讓中國芯在**手機(jī)市場更具競爭力。湘潭導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)國磊GT600SoC測試機(jī)通過地址/數(shù)據(jù)生成器驗(yàn)證片上存儲器（RAM/ROM）或寄存器配置接口完成ALPG測試。

“風(fēng)華3號”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流圖形生態(tài)，其圖形管線包含頂點(diǎn)處理、光柵化、著色器執(zhí)行等復(fù)雜階段，測試需覆蓋多種渲染模式與狀態(tài)轉(zhuǎn)換。國磊GT600測試機(jī)支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于實(shí)現(xiàn)定制化圖形功能測試算法，如Shader指令序列驗(yàn)證、Z-Buffer精度測試、紋理映射完整性檢查等。其128M向量響應(yīng)存儲深度可捕獲長周期圖形輸出行為，支持對幀率穩(wěn)定性、畫面撕裂等異常進(jìn)行回溯分析。國磊GT600測試機(jī)還支持STDF、CSV等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式輸出，便于良率追蹤與測試數(shù)據(jù)與EDA仿真結(jié)果的對比驗(yàn)證。

在HBM技術(shù)快速迭代的背景下，芯片企業(yè)亟需靈活、開放的測試平臺，以快速響應(yīng)設(shè)計(jì)變更與測試需求升級。國磊GT600測試機(jī)搭載開放式GTFY軟件系統(tǒng)，支持VisualStudio與C++開發(fā)環(huán)境，讓工程師能夠自由定制測試流程，快速開發(fā)復(fù)雜測試程序。系統(tǒng)兼容Access、Excel、CSV、STDF等主流數(shù)據(jù)格式，無縫對接現(xiàn)有數(shù)據(jù)分析平臺。同時(shí)，GT600提供測試向量轉(zhuǎn)換工具，可輕松遷移其他平臺的測試方案，大幅縮短導(dǎo)入周期。對于正在布局HBM產(chǎn)品的國產(chǎn)AI芯片公司而言，GT600不**是一臺測試機(jī)，更是一個(gè)靈活、高效、可擴(kuò)展的測試生態(tài)，助力客戶在激烈的市場競爭中搶占先機(jī)。國磊GT600SoC測試機(jī)512Sites高并行測試架構(gòu)，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的測試吞吐量。

國磊GT600支持400MHz高速測試與128M超大向量深度，足以運(yùn)行手機(jī)芯片內(nèi)部復(fù)雜的AI推理算法、多任務(wù)調(diào)度協(xié)議等長周期測試程序，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足導(dǎo)致的“中斷加載”，大幅提升測試覆蓋率和效率。其512站點(diǎn)并行測試能力，更可滿足手機(jī)芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求，***降低測試成本。更重要的是，國磊GT600采用開放式GTFY系統(tǒng)，支持C++自主編程，工程師可深度定制測試流程，無縫對接內(nèi)部研發(fā)與生產(chǎn)體系，實(shí)現(xiàn)從實(shí)驗(yàn)室到工廠的快速轉(zhuǎn)化。在外部供應(yīng)鏈?zhǔn)芟薜谋尘跋?，國磊GT600作為國產(chǎn)**測試設(shè)備，可以為國產(chǎn)手機(jī)芯片的持續(xù)迭代與穩(wěn)定量產(chǎn)，提供堅(jiān)實(shí)、安全、可控的底層保障。國磊GT600可以通過喚醒延遲測試即測量從低功耗模式到激發(fā)狀態(tài)的響應(yīng)時(shí)間，適用于可穿戴、IoT芯片。PCB測試系統(tǒng)價(jià)格

國磊GT600的128M向量存儲深度可記錄長時(shí)間功耗波形，用于分析AI推理、傳感器喚醒等突發(fā)任務(wù)的能耗曲線。衡陽CAF測試系統(tǒng)市場價(jià)格

杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)在車規(guī)芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛(wèi)士”的關(guān)鍵角色，其應(yīng)用貫穿從研發(fā)驗(yàn)證到量產(chǎn)的全過程，精細(xì)滿足AEC-Q100等嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。 首先，國磊GT600的**優(yōu)勢在于其高精度參數(shù)測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數(shù)測量單元）可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），這是車規(guī)芯片的**指標(biāo)。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變?yōu)楣δ苁В瑖贕T600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內(nèi)“零漏電”，大幅提升產(chǎn)品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關(guān)鍵測試項(xiàng)目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統(tǒng)，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續(xù)運(yùn)行1000小時(shí)以上，驗(yàn)證其長期穩(wěn)定性。其浮動(dòng)SMU電源板卡能精細(xì)模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證電源管理單元（PMU）在電壓波動(dòng)、負(fù)載突變下的響應(yīng)能力，防止“掉電重啟”。衡陽CAF測試系統(tǒng)市場價(jià)格