面對AI眼鏡出貨量激增（IDC預(yù)計(jì)2025年全球達(dá)1280萬副），量產(chǎn)測試效率成為關(guān)鍵瓶頸。國磊GT600測試機(jī)支持**512Sites并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆SoC測試成本，滿足高量產(chǎn)型號的產(chǎn)能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式導(dǎo)出，便于測試數(shù)據(jù)與MES系統(tǒng)對接，實(shí)現(xiàn)良率追蹤與SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探針臺與分選機(jī)，構(gòu)建全自動CP/FT測試流程，提升測試一致性與可靠性。對于集成了AI加速單元的MCU類SoC，國磊GT600測試機(jī)可同時(shí)驗(yàn)證其神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)推理功能與低功耗行為，確保端側(cè)AI性能與續(xù)航的雙重達(dá)標(biāo)。國磊GT600可利用高速數(shù)字通道捕獲時(shí)鐘與控制信號；結(jié)合TMU測量狀態(tài)切換延遲；來驗(yàn)證DVFS策略的有效性。廣州CAF測試系統(tǒng)市場價(jià)格

可穿戴設(shè)備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設(shè)備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機(jī)漏電超標(biāo)，可能導(dǎo)致設(shè)備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態(tài)電流（Iddq），相當(dāng)于每秒流過數(shù)億個(gè)電子的微小電流，能識別芯片內(nèi)部的“隱形漏電點(diǎn)”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗(yàn)證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機(jī)制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質(zhì)”的芯片進(jìn)入量產(chǎn)。同時(shí)，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗(yàn)證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續(xù)航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產(chǎn)芯片的用戶體驗(yàn)提供底層保障。深圳GEN3測試系統(tǒng)廠家國磊GT600SoC測試機(jī)高密度集成設(shè)計(jì)降低系統(tǒng)體積與功耗，適配高通道數(shù)HBM測試的緊湊型測試臺架部署。

在現(xiàn)代手機(jī)SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)?，已成為性能瓶頸的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復(fù)雜、時(shí)序嚴(yán)苛，對測試設(shè)備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細(xì)模擬高速信號邊沿與時(shí)鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務(wù)并發(fā)調(diào)度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導(dǎo)致的測試中斷或覆蓋不全，真正實(shí)現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗(yàn)證的完整性與可靠性。

高性能GPU的功耗管理直接影響系統(tǒng)穩(wěn)定性與能效比?！帮L(fēng)華3號”支持多級電源域與動態(tài)頻率調(diào)節(jié)，要求測試平臺具備高精度DC參數(shù)測量能力。國磊GT600測試機(jī)每通道集成PPMU，支持nA級靜態(tài)電流（IDDQ）測量，可**識別GPU在待機(jī)、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動SMU板卡，支持-2.5V~7V電壓范圍與1A驅(qū)動能力，可用于DVFS電壓切換測試、電源上電時(shí)序（PowerSequencing）驗(yàn)證及電源抑制比（PSRR）分析。GT-TMUHA04時(shí)間測量單元提供10ps分辨率，可精確測量GPU**喚醒延遲、中斷響應(yīng)時(shí)間與時(shí)鐘同步偏差，確保AI訓(xùn)推與實(shí)時(shí)渲染任務(wù)的時(shí)序可靠性。國磊GT600可配置GT-DPSMV08電源板卡，提供-2.5V~7V電壓范圍與1A驅(qū)動能力，覆蓋多種模擬IC的供電測試場景。

隨著智能手機(jī)進(jìn)入AI時(shí)代，SoC的競爭已從單一CPU性能轉(zhuǎn)向“CPU+GPU+NPU”三位一體的綜合算力比拼。Counterpoint數(shù)據(jù)顯示，天璣9000系列憑借在AI能力上的前瞻布局，2024年出貨量同比增長60%，預(yù)計(jì)2025年將再翻一番。這一成就的背后，不**是架構(gòu)設(shè)計(jì)的**，更是對NPU（神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)處理單元）和AI工作負(fù)載深度優(yōu)化的結(jié)果。而這類高度集成的AISoC，對測試設(shè)備提出了前所未有的挑戰(zhàn)：高引腳數(shù)、多電源域、復(fù)雜時(shí)序、低功耗模式、混合信號模塊等，均需在量產(chǎn)前完成**驗(yàn)證。國磊GT600測試機(jī)正是為此類**手機(jī)SoC量身打造的測試平臺，具備從功能到參數(shù)、從數(shù)字到模擬的全棧測試能力。國磊GT600可用于測量電源上電時(shí)序（PowerSequencing），確保多域電源按正確順序激發(fā)，避免閂鎖效應(yīng)。國磊導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)精選廠家

國磊GT600的SMU覆蓋從高壓IO（3.3V）到低電壓he心（0.6V~1.2V）的多種電源域，適配不同節(jié)點(diǎn)供電要求。廣州CAF測試系統(tǒng)市場價(jià)格

“風(fēng)華3號”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU，對模擬輸出精度、色彩一致性與時(shí)序穩(wěn)定性要求極為嚴(yán)苛。國磊GT600測試機(jī)支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗(yàn)證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號完整性與動態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關(guān)鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數(shù)進(jìn)行精確測量，確保醫(yī)療顯示場景下的灰階過渡平滑與色彩還原準(zhǔn)確。國磊GT600測試機(jī)的模塊化16插槽架構(gòu)支持?jǐn)?shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實(shí)現(xiàn)從GPU**到顯示輸出的端到端測試閉環(huán)。廣州CAF測試系統(tǒng)市場價(jià)格