杭州國(guó)磊GT600 SoC測(cè)試機(jī)憑借其高精度、高可靠性與混合信號(hào)測(cè)試能力，特別適用于對(duì)安全性和穩(wěn)定性要求極高的**醫(yī)療設(shè)備芯片的測(cè)試。以下幾類關(guān)鍵芯片非常適合使用杭州國(guó)磊GT600進(jìn)行驗(yàn)證： 1. 醫(yī)用SoC與微控制器（MCU） 現(xiàn)代醫(yī)療設(shè)備（如便攜式超聲儀、智能監(jiān)護(hù)儀、血糖儀）的**是集成了CPU、ADC、DAC、無(wú)線通信模塊的SoC或MCU。國(guó)磊GT600可***驗(yàn)證其數(shù)字邏輯功能，并通過可選AWG和Digitizer板卡，精確測(cè)試模擬前端（AFE）對(duì)生物電信號(hào)（如心電ECG、腦電EEG）的采集精度與噪聲抑制能力，確保測(cè)量數(shù)據(jù)真實(shí)可靠。 2. 高精度模擬與混合信號(hào)芯片 醫(yī)療設(shè)備依賴高精度ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）和DAC（數(shù)模轉(zhuǎn)換器）進(jìn)行信號(hào)轉(zhuǎn)換。國(guó)磊GT600的PPMU可精確測(cè)量nA級(jí)漏電流，防止信號(hào)漂移；其高精度TMU和可選AWG能生成標(biāo)準(zhǔn)生理信號(hào)波形，驗(yàn)證ADC的線性度、信噪比（SNR）等關(guān)鍵參數(shù)，確保血壓、血氧等測(cè)量值符合醫(yī)療級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行，支持1–1000小時(shí)持續(xù)測(cè)試，可靠性高。國(guó)磊GEN測(cè)試系統(tǒng)廠家

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號(hào)的“全能工具箱” 杭州國(guó)磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時(shí)間測(cè)量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測(cè)試機(jī)”升級(jí)為“混合信號(hào)測(cè)試平臺(tái)”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測(cè)試手機(jī)SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號(hào)純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時(shí)間分辨率，可精確測(cè)量5G基帶信號(hào)的抖動(dòng)與延遲，保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號(hào)，用于驗(yàn)證傳感器接口、電源紋波等。在測(cè)試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍(lán)牙的IoT芯片時(shí)，杭州國(guó)磊GT600可同時(shí)激勵(lì)數(shù)字邏輯、注入模擬信號(hào)、采集響應(yīng)波形，實(shí)現(xiàn)全功能閉環(huán)驗(yàn)證。這套“工具箱”讓杭州國(guó)磊GT600能應(yīng)對(duì)日益復(fù)雜的混合信號(hào)SoC，無(wú)需外接多臺(tái)設(shè)備，節(jié)省空間與成本。杭州CAF測(cè)試系統(tǒng)市場(chǎng)價(jià)格國(guó)磊GT600支持選配高精度浮動(dòng)SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內(nèi)精確施加電壓，監(jiān)測(cè)各電源域的動(dòng)態(tài)與靜態(tài)電流。

杭州國(guó)磊GT600支持比較高400MHz測(cè)試速率，意味著每秒可執(zhí)行4億次信號(hào)激勵(lì)與采樣，這是驗(yàn)證現(xiàn)代高速SoC的基石。在智能手機(jī)場(chǎng)景中，麒麟芯片的LPDDR5內(nèi)存接口、PCIe 4.0存儲(chǔ)總線、USB4高速傳輸均工作在GHz級(jí)頻率。GT600的400MHz速率雖非直接運(yùn)行在接口全速，但足以覆蓋其協(xié)議層的功能測(cè)試與時(shí)序驗(yàn)證。通過“降頻測(cè)試+向量仿真”，GT600能精確捕捉信號(hào)邊沿、驗(yàn)證數(shù)據(jù)完整性。在AI芯片測(cè)試中，該速率可驅(qū)動(dòng)NPU**進(jìn)行高吞吐矩陣運(yùn)算測(cè)試，確保算力達(dá)標(biāo)。400MHz還支持復(fù)雜狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)、多模塊協(xié)同仿真，避免因測(cè)試速率不足導(dǎo)致功能覆蓋缺失。這一參數(shù)使GT600能勝任從5G通信到邊緣計(jì)算的各類高速芯片驗(yàn)證，成為國(guó)產(chǎn)**SoC量產(chǎn)的“***道高速關(guān)卡”。

GT600每通道集成PPMU，支持nA級(jí)電流分辨率，可精確測(cè)量被電源門控關(guān)閉的模塊在“關(guān)斷狀態(tài)”下的漏電流。通過對(duì)比門控開啟與關(guān)閉時(shí)的電流差異，評(píng)估電源開關(guān)的隔離能力，確保未**模塊不會(huì)產(chǎn)生異常功耗。2.GT600支持可選配高精度浮動(dòng)SMU板卡，可為SoC的不同電源域提供**的電壓施加與電流監(jiān)測(cè)。在電源門控測(cè)試中，可通過SMU分別控制主電源與門控電源的開啟/關(guān)閉時(shí)序，驗(yàn)證電源域之間的依賴關(guān)系與上電順序，防止閂鎖或電壓倒灌。3.GT600配備GT-TMUHA04時(shí)間測(cè)量單元，提供10ps時(shí)間分辨率，用于測(cè)量從門控信號(hào)有效到目標(biāo)模塊恢復(fù)供電的時(shí)間、模塊喚醒后功能恢復(fù)的響應(yīng)延遲、確保電源門控機(jī)制在滿足低功耗要求的同時(shí)，不影響系統(tǒng)實(shí)時(shí)性。4.通過GTFY軟件系統(tǒng)與C++編程，工程師可編寫腳本實(shí)現(xiàn)循環(huán)執(zhí)行“上電→功能測(cè)試→門控關(guān)斷→延時(shí)→喚醒”流程；掃描不同關(guān)斷時(shí)長(zhǎng)對(duì)喚醒成功率的影響；監(jiān)測(cè)多次開關(guān)操作后的電流一致性，評(píng)估可靠性。5.GT600支持高采樣率的動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測(cè)，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流，避免因瞬時(shí)電流過大導(dǎo)致電壓塌陷或系統(tǒng)復(fù)位。結(jié)合Digitizer功能，記錄電壓/電流波形，用于分析電源穩(wěn)定性與去耦電容設(shè)計(jì)有效性。GM8800高阻測(cè)試系統(tǒng)可長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行1-9999小時(shí)。

    對(duì)國(guó)產(chǎn)車而言，其自研車規(guī)級(jí)MCU（微控制器）與功率半導(dǎo)體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業(yè)**嚴(yán)苛的可靠性認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強(qiáng)振動(dòng)、長(zhǎng)期高負(fù)載等惡劣環(huán)境下仍能穩(wěn)定運(yùn)行十年以上。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)正是這一“車規(guī)級(jí)體檢”的關(guān)鍵設(shè)備。其每通道PPMU（精密參數(shù)測(cè)量單元）可精細(xì)測(cè)量nA級(jí)靜態(tài)漏電流（Iddq），識(shí)別芯片內(nèi)部微小缺陷或工藝波動(dòng)導(dǎo)致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片；同時(shí)支持引腳級(jí)開路/短路測(cè)試，確保封裝無(wú)瑕疵。更關(guān)鍵的是，國(guó)磊GT600可選配浮動(dòng)SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證MCU在電壓波動(dòng)、負(fù)載突變等真實(shí)工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯(cuò)亂”。此外，國(guó)磊GT600支持高溫老化測(cè)試（Burn-in）接口，可配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長(zhǎng)期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國(guó)磊GT600可以為國(guó)產(chǎn)車構(gòu)建從研發(fā)到量產(chǎn)的高可靠測(cè)試閉環(huán)，守護(hù)每一程出行安全。 國(guó)磊GT600每通道集成PPMU支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV多種模式，滿足運(yùn)放、比較器等模擬器件特性測(cè)試需求。國(guó)磊PCB測(cè)試系統(tǒng)工藝

國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)每通道32/64/128M向量存儲(chǔ)深度，支持復(fù)雜HBM協(xié)議Pattern的完整加載與執(zhí)行。國(guó)磊GEN測(cè)試系統(tǒng)廠家

科研創(chuàng)新的“開放平臺(tái)” 在高校與科研院所，芯片研發(fā)需要高度靈活的測(cè)試環(huán)境。杭州國(guó)磊GT600的開放式GTFY系統(tǒng)支持C++/Python編程，研究人員可自由開發(fā)測(cè)試算法，驗(yàn)證新型架構(gòu)（如存算一體、類腦芯片）。其16個(gè)通用插槽可接入自研測(cè)試板卡，實(shí)現(xiàn)定制化測(cè)量。128M向量深度支持復(fù)雜實(shí)驗(yàn)程序運(yùn)行，避免頻繁加載。杭州國(guó)磊GT600還支持探針臺(tái)接口，便于對(duì)晶圓上裸片進(jìn)行特性表征。在國(guó)產(chǎn)芯片從“模仿”到“創(chuàng)新”的轉(zhuǎn)型中，杭州國(guó)磊GT600不僅是量產(chǎn)工具，更是科研探索的“開放實(shí)驗(yàn)臺(tái)”，為下一代半導(dǎo)體技術(shù)的突破提供關(guān)鍵支持。國(guó)磊GEN測(cè)試系統(tǒng)廠家