AI芯片在推理或訓(xùn)練突發(fā)負(fù)載下，電流可在微秒級劇烈波動(dòng)，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機(jī)支持高采樣率動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設(shè)計(jì)。其128M向量響應(yīng)存儲(chǔ)深度支持長時(shí)間功耗行為記錄，用于分析AI工作負(fù)載的能耗模式?，F(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國磊GT600支持**2048個(gè)數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗(yàn)證。其512Sites高并行測試架構(gòu)**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務(wù)器芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求。
國磊GT600可測GPU類AI加速芯片如國產(chǎn)GPU（如風(fēng)華）多電源域管理、顯示接口、高精度ADC/DAC及低功耗模式。金門導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)廠家直銷

面對國產(chǎn)手機(jī)芯片動(dòng)輒數(shù)千萬乃至上億顆的年出貨量，傳統(tǒng)“單顆或小批量測試”模式早已無法滿足產(chǎn)能與成本需求。國磊GT600憑借512站點(diǎn)并行測試能力，開創(chuàng)“集體考試”新模式——512顆芯片同步上電、同步輸入測試向量、同步采集響應(yīng)、同步判定Pass/Fail，測試效率呈指數(shù)級提升。這不僅將單位時(shí)間產(chǎn)出提高數(shù)十倍，更大幅縮短新品從試產(chǎn)到大規(guī)模鋪貨的周期，搶占市場先機(jī)。更重要的是，測試成本（CostofTest）是芯片總成本的重要組成部分。據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)，同測數(shù)（ParallelTestSites）每翻一倍，單顆芯片測試成本可下降30%~40%。國磊GT600的512站點(diǎn)能力，相較傳統(tǒng)32或64站點(diǎn)設(shè)備，成本降幅可達(dá)70%以上，為國產(chǎn)手機(jī)SoC在激烈市場競爭中贏得價(jià)格優(yōu)勢。國磊GT600以“高速（400MHz）+高密度（512通道）+高并行（512Sites）”三位一體架構(gòu)，構(gòu)建起支撐國產(chǎn)**芯片量產(chǎn)的“超級測試流水線”，可以讓中國芯不僅“造得出”，更能“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。金門高阻測試系統(tǒng)定制GM8800導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)，精確測量高達(dá)10^14Ω的絕緣電阻。

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司GM8800導(dǎo)電陽極絲（CAF）測試系統(tǒng)是國產(chǎn)**半導(dǎo)體測試裝備的重大成就，其性能指標(biāo)直接對標(biāo)國際**水平。該系統(tǒng)支持高達(dá)256個(gè)**通道的同步測試，電阻測量范圍橫跨10^4~10^14Ω，精度控制在±3%~±10%之間，能夠滿足**苛刻的絕緣材料與PCB板的CAF效應(yīng)評估需求。GM8800提供極其靈活和精確的電壓施加能力，內(nèi)置0V~±100V精密源，外接偏置電壓可達(dá)3000V，電壓控制精度***，步進(jìn)調(diào)節(jié)細(xì)膩，電壓建立速度快，并允許用戶設(shè)置1~600秒的穩(wěn)定時(shí)間以確保測試條件的一致性。系統(tǒng)集成數(shù)據(jù)采集功能，同步監(jiān)測記錄所有相關(guān)參數(shù)（時(shí)間、電阻、電流、電壓、溫濕度），并通過專業(yè)軟件進(jìn)行自動(dòng)化處理、分析和存儲(chǔ)，支持遠(yuǎn)程訪問與控制。其設(shè)計(jì)高度重視安全性與可靠性，內(nèi)置低阻、過壓、溫濕度越限、AC斷電、系統(tǒng)死機(jī)等多重報(bào)警機(jī)制，并可連接UPS提供長達(dá)120分鐘的斷電保護(hù)。與價(jià)格昂貴的英國GEN3系統(tǒng)相比，GM8800在**功能與性能上實(shí)現(xiàn)***超越對標(biāo)，更在系統(tǒng)總擁有成本、通道擴(kuò)展性、定制化能力以及本土技術(shù)服務(wù)響應(yīng)效率上具備壓倒性優(yōu)勢，已成為國內(nèi)眾多**制造企業(yè)與研究機(jī)構(gòu)替代進(jìn)口、實(shí)現(xiàn)供應(yīng)鏈自主的優(yōu)先方案。

當(dāng)全球HBM市場由三星、SK海力士主導(dǎo)，當(dāng)先進(jìn)封裝技術(shù)成為“卡脖子”關(guān)鍵，國產(chǎn)測試設(shè)備的自主可控顯得尤為重要。國磊GT600測試機(jī)，正是在這一背景下崛起的國產(chǎn)**ATE**。它不**性能對標(biāo)國際**設(shè)備，更以高性價(jià)比、本地化服務(wù)與持續(xù)創(chuàng)新能力，贏得國內(nèi)頭部AI芯片企業(yè)的信賴。GT600成功應(yīng)用于多款集成了HBM接口的GPU與AI加速器測試，驗(yàn)證了其在**領(lǐng)域的實(shí)戰(zhàn)能力。選擇GT600，不**是選擇一臺(tái)測試機(jī)，更是選擇一條自主可控的國產(chǎn)化路徑。國磊GT600——智測HBM芯時(shí)代，賦能中國算力新未來！支持Windows 7/8/10系統(tǒng)，軟硬件兼容性強(qiáng)，部署便捷。

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司打造的GM8800多通道絕緣電阻測試系統(tǒng)是實(shí)現(xiàn)**電子材料與組件可靠性表征國產(chǎn)化的重要突破。該系統(tǒng)支持高達(dá)256個(gè)測量通道的并行運(yùn)行，電阻檢測能力橫跨10^4至10^14Ω，測量精度嚴(yán)格控制，尤其在常規(guī)應(yīng)用區(qū)間（如10^10Ω以下）精度優(yōu)于±3%，展現(xiàn)出***的測量一致性和重復(fù)性。GM8800配備高性能電壓施加單元，提供0V~±100V內(nèi)置輸出和1V~3000V外接擴(kuò)展，電壓控制精度高，切換速度快，且測試電壓穩(wěn)定時(shí)間可根據(jù)材料特性在1~600秒間靈活設(shè)置，確保測試條件的科學(xué)性與準(zhǔn)確性。系統(tǒng)具備完善的實(shí)時(shí)監(jiān)測功能，同步采集電阻、電流、電壓、溫度、濕度數(shù)據(jù)，并通過專業(yè)軟件進(jìn)行處理、顯示、分析與存儲(chǔ)，用戶還可通過網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)控與操作。其設(shè)計(jì)充分考慮了長期實(shí)驗(yàn)的可靠性，內(nèi)置低阻、過壓、溫濕度越限、斷電、系統(tǒng)死機(jī)等多重報(bào)警和保護(hù)電路，并支持外部UPS延長斷電保護(hù)時(shí)間。對比進(jìn)口設(shè)備如英國GEN3，GM8800在提供同等前列測試性能的同時(shí)，憑借其更友好的價(jià)格、更靈活的配置選項(xiàng)和更迅捷的本土技術(shù)服務(wù)，為國內(nèi)集成電路封裝、PCB制造、新能源汽車、儲(chǔ)能系統(tǒng)等領(lǐng)域的客戶提供了超越期望的高性價(jià)比選擇，有力推動(dòng)了國內(nèi)**測試儀器產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。GT600支持采用開源CPU核與自研NPU的異構(gòu)SoC數(shù)字邏輯、模擬模塊與低功耗策略的綜合驗(yàn)證。浙江SIR測試系統(tǒng)定制

工藝微縮致亞閾值漏電柵極漏電增加，微小漏電異常縮短電池壽命，GT600快速篩選出“壞芯”，確保量產(chǎn)良率。金門導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)廠家直銷

每一部智能手機(jī)的**都是一顆名為SoC的“超級大腦”。以蘋果為例，每一代iPhone都搭載自研的A系列或M系列芯片（如A18、M4）。這顆芯片集成了CPU、GPU、NPU、ISP、基帶、內(nèi)存控制器等數(shù)十個(gè)模塊。但這顆芯片在量產(chǎn)前，必須經(jīng)歷SoC測試機(jī)成千上萬次的測試。比如功能驗(yàn)證：檢查芯片的每一個(gè)邏輯門是否正常工作。當(dāng)你用iPhone拍照時(shí)，ISP是否能正確處理圖像？A18芯片的NPU是否能準(zhǔn)確識別人臉？國磊GT600芯片測試機(jī)會(huì)模擬各種使用場景，輸入測試向量，驗(yàn)證輸出結(jié)果。性能篩選：國磊GT600SoC芯片測試機(jī)會(huì)進(jìn)行速度分級測試，將芯片分為不同等級。只有通過最高速度測試的芯片，才會(huì)被用于旗艦機(jī)型。功耗與漏電檢測：手機(jī)續(xù)航至關(guān)重要。國磊GT600芯片測試機(jī)的PPMU能精確測量芯片的靜態(tài)電流（Iddq），確保待機(jī)時(shí)不“偷電”，避免手機(jī)“一天三充”?？煽啃员Ｕ希涸跇O端溫度、電壓下運(yùn)行芯片，篩選出可能早期失效的“弱雞芯片”。國磊GT600芯片測試機(jī)支持老化測試，確保每一顆裝進(jìn)iPhone的芯片都經(jīng)得起長期使用?；旌闲盘枩y試：現(xiàn)代SoC不僅有數(shù)字電路，還有大量模擬模塊（如音頻編解碼、電源管理）。國磊GT600芯片測試機(jī)可選配AWG和TMU，精確測試這些模擬功能，確保通話清晰、充電穩(wěn)定。金門導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)廠家直銷