國磊GT600支持可選配高精度浮動SMU板卡，每塊SMU可**輸出電壓與監(jiān)測電流。對于具有多個電源域（如VDD_CORE、VDD_IO、VDD_SRAM、VDD_PG）的SoC，GT600可為每個域分配**SMU通道，實現(xiàn)各電源域**上電/斷電、不同電壓值（如1.8V、1.2V、0.9V）同時施加、防止電源域間相互干擾?，F(xiàn)代SoC要求多個電源域按特定順序上電（如先VDD_IO，后VDD_CORE）以避免閂鎖效應。國磊GT600通過GTFY軟件系統(tǒng)編程控制各SMU的開啟時間，精確設置各域電壓的上升延遲（精度達ms級），驗證SoC在正確與錯誤時序下的行為，確保設計符合規(guī)范。國磊GT600的SMU和PPMU支持實時監(jiān)測每個電源域的電流消耗，可用于識別某電源域的異常功耗（如漏電、短路）、分析不同工作模式（運行、睡眠、喚醒）下的域級功耗分布、驗證電源門控模塊是否有效切斷目標域供電。國磊GT600可編程調節(jié)各電源域電壓（如±5%波動），測試SoC在電壓偏移條件下的功能穩(wěn)定性，評估電源完整性設計余量。對于國磊GT600SMU電壓范圍外的電源（如高壓模擬域），可通過GPIB/TTL接口控制外部源表或電源模塊，實現(xiàn)與GT600內部SMU的同步操作，構建完整的多電源域測試系統(tǒng)。國磊GT600SoC測試機ALPG功能可生成地址/數(shù)據(jù)模式，用于HBM存儲控制器的功能驗證。鹽城導電陽極絲測試系統(tǒng)工藝

適配多元化國產(chǎn)芯片架構 中國芯片產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)百花齊放態(tài)勢：RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構層出不窮。這些芯片往往具有非標I/O、特殊電源域或混合信號需求。國磊（Guolei）GT600的16個通用插槽、多種VI浮動電源板卡（如-2.5V~7V）、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡，使其能靈活適配各類異構芯片的測試需求，避免因測試平臺僵化而制約創(chuàng)新芯片的發(fā)展，從而維護技術路線的多樣性與供應鏈的抗風險能力。保障關鍵領域芯片供應安全 在**、航空航天、智能電網(wǎng)、軌道交通、新能源汽車等關乎國計民生的關鍵領域，芯片供應鏈安全直接關系**。國磊（Guolei）GT600已應用于**AD/DA、顯示驅動、MCU等芯片測試，未來可進一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等領域。通過部署國產(chǎn)測試設備，這些敏感芯片的測試數(shù)據(jù)、良率信息、失效模式等**知識產(chǎn)權得以保留在境內，杜絕信息泄露風險。高性能PCB測試系統(tǒng)市價國磊GT600SoC測試機可驗證電源門控（PowerGating）開關的漏電控制效果。

杭州國磊SOC測試機：開啟全場景智能測試新紀元在半導體測試領域，杭州國磊SOC測試機憑借***性能與創(chuàng)新技術脫穎而出，成為行業(yè)焦點。作為杭州國磊半導體設備有限公司的**產(chǎn)品，它專為系統(tǒng)級芯片（SoC）測試量身打造，以“彈性擴展+國產(chǎn)自研+全棧覆蓋”三大**優(yōu)勢，為芯片測試提供一站式解決方案。 杭州國磊SOC測試機采用模塊化彈性架構，擁有GC-36旗艦型、GC-18性能型、GC-8經(jīng)濟型三階主機箱，靈活適配不同規(guī)模產(chǎn)線與實驗室驗證需求。其***“硬對接+線纜雙模式”，支持機柜、桌面、機端部署，極大提升了設備部署的便捷性與靈活性。 在性能方面，杭州國磊SOC測試機實現(xiàn)多項突破。數(shù)字信號速率高達800Mbps，向量存儲深度達128M，支持多站點并行測試，單機可同步運行32個測試單元，測試吞吐量提升300%，***縮短測試周期。同時，其高壓測試范圍覆蓋-10V至+1000V，時間測量精度達1ps分辨率，滿足**AD/DA芯片、MCU微控制單元等復雜芯片的嚴苛測試需求。 作為國產(chǎn)自研的典范，更在服務響應速度與定制化能力上**一步。其全流程測試覆蓋能力，涵蓋數(shù)字、電源、高壓、大功率、射頻分析等六大核心板卡矩陣，為芯片從研發(fā)到量產(chǎn)的全生命周期提供堅實保障。

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時間測量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率，可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲，保障通信質量。Digitizer則能高速采樣模擬信號，用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風、藍牙的IoT芯片時，杭州國磊GT600可同時激勵數(shù)字邏輯、注入模擬信號、采集響應波形，實現(xiàn)全功能閉環(huán)驗證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應對日益復雜的混合信號SoC，無需外接多臺設備，節(jié)省空間與成本。高中端國產(chǎn)替代測試系統(tǒng)，用戶高性價比的選擇！

5G/6G通信芯片的“時序顯微鏡” 5G/6G基站與終端芯片對信號時序精度要求極高，微小抖動即可導致通信中斷。杭州國磊GT600配備高精度TMU（時間測量單元），分辨率高達10ps（0.01納秒），相當于光在3毫米內傳播的時間，能精細捕捉高速信號邊沿的微小偏移。這一能力對于驗證基帶芯片、射頻前端、AD/DA轉換器的時序一致性至關重要。杭州國磊GT600還可通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試芯片在復雜調制模式下的響應性能。其400MHz測試速率與100ps邊沿精度，確保能覆蓋PCIe、USB、MIPI等高速接口的協(xié)議測試需求。在通信技術快速迭代的背景下，杭州國磊GT600以“皮秒級”測量能力，為國產(chǎn)通信芯片的性能與穩(wěn)定性提供精細驗證，助力中國在6G賽道搶占先機。國磊GT600SoC測試機每通道32/64/128M向量存儲深度，支持復雜HBM協(xié)議Pattern的完整加載與執(zhí)行。深圳SIR測試系統(tǒng)定制

國磊GT600在電源門控測試中，通過其高精度測量能力與靈活測試架構，適配成熟到先進節(jié)點的工藝制程。鹽城導電陽極絲測試系統(tǒng)工藝

每通道PPMU：芯片健康的“精密聽診器” 。杭州國磊GT600的每通道集成PPMU（參數(shù)測量單元），是其高精度測試的**。PPMU可在FVMI（強制電壓測電流）模式下，精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），相當于檢測每秒流過數(shù)億個電子的微小電流。在手機芯片測試中，這能識別因工藝缺陷導致的“待機耗電”問題，確保續(xù)航達標。在FIMV（強制電流測電壓）模式下，可驗證電源調整率，防止芯片在高負載下電壓跌落導致死機。PPMU還支持快速哨兵測試（Quick Sentinel），在毫秒內完成所有引腳的開路/短路檢測，大幅提升初篩效率。對于AI芯片，PPMU可逐核測量功耗，篩選出“能效比較好”**。這一“每引腳級”測量能力，讓杭州國磊GT600成為芯片可靠性的“***守門人”。鹽城導電陽極絲測試系統(tǒng)工藝