GT600SoC測試機在測試高可靠性產品（如車規(guī)芯片、工業(yè)級MCU、航天電子、醫(yī)療設備芯片）時，展現出精度、***性、穩(wěn)定性與可追溯性四大**優(yōu)勢，確保產品在極端環(huán)境下長期穩(wěn)定運行。首先，高精度參數測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數測量單元），可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項目。GT600可配合溫控系統(tǒng)進行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運行芯片數百小時，加速暴露早期缺陷。其浮動SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業(yè)設備的復雜電源環(huán)境，驗證芯片在電壓波動、負載突變下的穩(wěn)定性。對于通信類高可靠產品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號時序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩(wěn)定性與長周期測試能力。GT600硬件設計冗余，散熱優(yōu)良，支持7x24小時連續(xù)運行，可執(zhí)行長達數周的耐久性測試，模擬產品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數據完整。***，數據可追溯性強。 **適用于PCB、電子組件絕緣性能評估與品質管控。鹽城導電陽極絲測試系統(tǒng)參考價

當全球HBM市場由三星、SK海力士主導，當先進封裝技術成為“卡脖子”關鍵，國產測試設備的自主可控顯得尤為重要。國磊GT600測試機，正是在這一背景下崛起的國產**ATE**。它不**性能對標國際**設備，更以高性價比、本地化服務與持續(xù)創(chuàng)新能力，贏得國內頭部AI芯片企業(yè)的信賴。GT600成功應用于多款集成了HBM接口的GPU與AI加速器測試，驗證了其在**領域的實戰(zhàn)能力。選擇GT600，不**是選擇一臺測試機，更是選擇一條自主可控的國產化路徑。國磊GT600——智測HBM芯時代，賦能中國算力新未來！杭州國磊GEN3測試系統(tǒng)供應商每通道測試時間＜15ms，256通道全測不超過60秒，高效節(jié)能。

    國產手機自研芯片體系——包括手機SoC（如麒麟系列）、服務器芯片（如鯤鵬）、AI加速芯片（如昇騰Ascend）——不僅是產品競爭力的**，更是中國半導體自主可控的戰(zhàn)略支點。這些芯片高度集成、性能***、功耗敏感，對測試設備的全面性、精度、效率和靈活性提出前所未有的挑戰(zhàn)。國磊GT600SoC測試機，正是為這類**國產芯片量身打造的“全能考官”。國磊GT600不僅能驗證手機SoC的CPU/GPU的基礎邏輯功能，更能通過可選配的AWG（任意波形發(fā)生器），模擬真實世界的模擬信號，精細測試ISP圖像處理單元對攝像頭輸入信號的響應質量，確保拍照清晰、色彩準確；通過高精度TMU（時間測量單元，精度達10ps），驗證5G基帶芯片的信號時序與抖動，保障通信穩(wěn)定低延遲；通過每通道PPMU，檢測NPU在待機與高負載下的微小漏電流，確保AI算力強勁的同時功耗可控。

隨著智能手機進入AI時代，SoC的競爭已從單一CPU性能轉向“CPU+GPU+NPU”三位一體的綜合算力比拼。Counterpoint數據顯示，天璣9000系列憑借在AI能力上的前瞻布局，2024年出貨量同比增長60%，預計2025年將再翻一番。這一成就的背后，不**是架構設計的**，更是對NPU（神經網絡處理單元）和AI工作負載深度優(yōu)化的結果。而這類高度集成的AISoC，對測試設備提出了前所未有的挑戰(zhàn)：高引腳數、多電源域、復雜時序、低功耗模式、混合信號模塊等，均需在量產前完成**驗證。國磊GT600測試機正是為此類**手機SoC量身打造的測試平臺，具備從功能到參數、從數字到模擬的全棧測試能力。實時電流監(jiān)測與快速數據采集，完整掌握電化學反應過程。

低功耗SoC在先進工藝下表現出更復雜的漏電行為、更敏感的電源完整性需求、更精細的時序窗口，以及混合信號模塊（如PLL、ADC、LDO）的高精度驗證要求。傳統(tǒng)測試設備往往難以滿足這些需求，尤其是在靜態(tài)電流（IDDQ）、電壓裕量測試、動態(tài)功耗曲線、喚醒延遲、電源序列控制等關鍵參數的測量上。此時，國磊GT600測試機的價值凸顯。GT600支持每通道PPMU（ParametricPinMonitorUnit），可實現nA級靜態(tài)電流測量，**捕捉先進工藝下SoC的漏電異常，確保低功耗模式（Sleep/DeepSleep）的有效性。其可選配的高精度浮動SMU板卡支持-2.5V~7V寬電壓范圍與1A驅動能力，可用于DVFS電壓切換測試與電源域上電時序驗證。國磊GT600可用于執(zhí)行電壓裕量測試（VoltageMargining），評估芯片在電壓波動下的穩(wěn)定性。杭州國磊GEN3測試系統(tǒng)供應商

國磊半導體致力于為全球客戶提供高性能的測試解決方案。鹽城導電陽極絲測試系統(tǒng)參考價

    2025年云棲大會以“云智一體·碳硅共生”為主題，強調AI與實體產業(yè)的深度融合。在這一圖景中，SoC測試機如國磊GT600正扮演著“碳基世界與硅基智能”之間的關鍵橋梁角色。AI大模型、Agent與具身智能的落地，**終都依賴于高性能SoC芯片的支撐——無論是云端服務器的AI加速器，還是終端設備的智能處理器。然而，再先進的芯片設計，若無法通過高精度、高效率的測試，便無法實現量產與應用。國磊GT600等SoC測試機正是確保這些“智能硅基大腦”功能完整、性能達標、功耗可控的“***質檢官”。“碳硅共生”意味著虛擬智能（碳基信息）與物理芯片（硅基載體）的協(xié)同進化。國磊GT600可以通過400MHz高速測試、PPMU精密參數測量、混合信號驗證等能力，保障AI芯片在真實場景中穩(wěn)定運行，推動大模型從云端走向終端。同時，其高同測能力與低功耗設計，也契合綠色計算與智能制造的可持續(xù)發(fā)展目標?？梢哉f，沒有可靠的SoC測試，AI的產業(yè)落地就如同無源之水。在云棲大會展現的智能未來背后，國磊GT600這樣的SoC測試設備，正是讓“云智”真正“共生”的底層基石。 鹽城導電陽極絲測試系統(tǒng)參考價