2025年云棲大會以“云智一體·碳硅共生”為主題，強調(diào)AI與實體產(chǎn)業(yè)的深度融合。在這一圖景中，SoC測試機如國磊GT600正扮演著“碳基世界與硅基智能”之間的關(guān)鍵橋梁角色。AI大模型、Agent與具身智能的落地，**終都依賴于高性能SoC芯片的支撐——無論是云端服務器的AI加速器，還是終端設(shè)備的智能處理器。然而，再先進的芯片設(shè)計，若無法通過高精度、高效率的測試，便無法實現(xiàn)量產(chǎn)與應用。國磊GT600等SoC測試機正是確保這些“智能硅基大腦”功能完整、性能達標、功耗可控的“***質(zhì)檢官”?！疤脊韫采币馕吨摂M智能（碳基信息）與物理芯片（硅基載體）的協(xié)同進化。國磊GT600可以通過400MHz高速測試、PPMU精密參數(shù)測量、混合信號驗證等能力，保障AI芯片在真實場景中穩(wěn)定運行，推動大模型從云端走向終端。同時，其高同測能力與低功耗設(shè)計，也契合綠色計算與智能制造的可持續(xù)發(fā)展目標?？梢哉f，沒有可靠的SoC測試，AI的產(chǎn)業(yè)落地就如同無源之水。在云棲大會展現(xiàn)的智能未來背后，國磊GT600這樣的SoC測試設(shè)備，正是讓“云智”真正“共生”的底層基石。 國磊GT600SoC測試機通過加載Pattern，驗證SoC邏輯（如CPU、NPU、DSP）的功能正確性與邏輯測試及向量測試。浙江高阻測試系統(tǒng)行價

工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的“量產(chǎn)引擎” 工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)（IIoT）設(shè)備對芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國磊GT600的512站點并行測試能力，可一次測試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測試吞吐量，***降低單顆測試成本。據(jù)行業(yè)測算，同測數(shù)每翻一倍，測試成本可下降30%以上。杭州國磊GT600支持長時間老化測試，篩選出能在高溫、高濕、強電磁干擾環(huán)境下穩(wěn)定運行的“工業(yè)級”芯片。其GTFY系統(tǒng)支持STDF數(shù)據(jù)導出，可無縫對接工廠MES系統(tǒng)，實現(xiàn)良率分析與智能制造。杭州國磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優(yōu)勢，為國產(chǎn)IIoT芯片的大規(guī)模量產(chǎn)提供強大引擎，助力中國智造走向全球。廣東CAF測試系統(tǒng)定制選擇國磊，就是選擇了超預期的測試技術(shù)與成本控制。

AI芯片在推理或訓練突發(fā)負載下，電流可在微秒級劇烈波動，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機支持高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設(shè)計團隊優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設(shè)計。其128M向量響應存儲深度支持長時間功耗行為記錄，用于分析AI工作負載的能耗模式?，F(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國磊GT600支持**2048個數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗證。其512Sites高并行測試架構(gòu)**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務器芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求。

“風華3號”的推出標志著國產(chǎn)全功能GPU在大模型訓練、科學計算與重度渲染領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)從0到1的突破。其集成RISC-VCPU與CUDA兼容GPU架構(gòu)，支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生態(tài)，對芯片功能復雜度、接口帶寬與時序精度提出了極高要求。此類高性能GPU通常具備數(shù)千個邏輯引腳、多電源域、高速SerDes接口及復雜狀態(tài)機，傳統(tǒng)測試設(shè)備難以完成**驗證。國磊GT600測試機支持**2048個數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋“風華3號”類GPU的高引腳數(shù)、高速功能測試需求。其32/64/128M向量存儲深度支持復雜計算指令序列的Pattern加載，確保GPU**、NPU單元及RISC-V子系統(tǒng)的功能正確性。國磊GT600為采用先進工藝、集成多電源域、支持復雜低功耗策略的SoC提供了從研發(fā)驗證到量產(chǎn)測試的全程支持。

    GT600SoC測試機在測試高可靠性產(chǎn)品（如車規(guī)芯片、工業(yè)級MCU、航天電子、醫(yī)療設(shè)備芯片）時，展現(xiàn)出精度、***性、穩(wěn)定性與可追溯性四大**優(yōu)勢，確保產(chǎn)品在極端環(huán)境下長期穩(wěn)定運行。首先，高精度參數(shù)測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數(shù)測量單元），可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產(chǎn)品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項目。GT600可配合溫控系統(tǒng)進行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運行芯片數(shù)百小時，加速暴露早期缺陷。其浮動SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業(yè)設(shè)備的復雜電源環(huán)境，驗證芯片在電壓波動、負載突變下的穩(wěn)定性。對于通信類高可靠產(chǎn)品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號時序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩(wěn)定性與長周期測試能力。GT600硬件設(shè)計冗余，散熱優(yōu)良，支持7x24小時連續(xù)運行，可執(zhí)行長達數(shù)周的耐久性測試，模擬產(chǎn)品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數(shù)據(jù)完整。***，數(shù)據(jù)可追溯性強。 您是否需要一款能同時監(jiān)測溫度濕度的絕緣電阻測試儀？深圳GEN3測試系統(tǒng)行價

國磊GT600SoC測試機作為通用ATE平臺，其測試能力由板卡配置與軟件程序決定，而非綁定特定工藝。浙江高阻測試系統(tǒng)行價

在HBM技術(shù)快速迭代的背景下，芯片企業(yè)亟需靈活、開放的測試平臺，以快速響應設(shè)計變更與測試需求升級。國磊GT600測試機搭載開放式GTFY軟件系統(tǒng)，支持VisualStudio與C++開發(fā)環(huán)境，讓工程師能夠自由定制測試流程，快速開發(fā)復雜測試程序。系統(tǒng)兼容Access、Excel、CSV、STDF等主流數(shù)據(jù)格式，無縫對接現(xiàn)有數(shù)據(jù)分析平臺。同時，GT600提供測試向量轉(zhuǎn)換工具，可輕松遷移其他平臺的測試方案，大幅縮短導入周期。對于正在布局HBM產(chǎn)品的國產(chǎn)AI芯片公司而言，GT600不**是一臺測試機，更是一個靈活、高效、可擴展的測試生態(tài)，助力客戶在激烈的市場競爭中搶占先機。浙江高阻測試系統(tǒng)行價