“風華3號”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU，對模擬輸出精度、色彩一致性與時序穩(wěn)定性要求極為嚴苛。國磊GT600測試機支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號完整性與動態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數進行精確測量，確保醫(yī)療顯示場景下的灰階過渡平滑與色彩還原準確。國磊GT600測試機的模塊化16插槽架構支持數字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實現從GPU**到顯示輸出的端到端測試閉環(huán)。國磊GT600SoC測試機通過電源上電時序測試利用SMU監(jiān)控多電源域的電壓建立順序，防止閂鎖效應。杭州CAF測試系統(tǒng)哪家好

面對AI眼鏡出貨量激增（IDC預計2025年全球達1280萬副），量產測試效率成為關鍵瓶頸。國磊GT600測試機支持**512Sites并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆SoC測試成本，滿足高量產型號的產能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等標準數據格式導出，便于測試數據與MES系統(tǒng)對接，實現良率追蹤與SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探針臺與分選機，構建全自動CP/FT測試流程，提升測試一致性與可靠性。對于集成了AI加速單元的MCU類SoC，國磊GT600測試機可同時驗證其神經網絡推理功能與低功耗行為，確保端側AI性能與續(xù)航的雙重達標。蘇州CAF測試系統(tǒng)研發(fā)國磊GT600SoC測試機可通過配置相應板卡和開發(fā)測試程序實現SoC全測試。

HBM接口動輒上千個高速信號引腳，數據速率高達Gbps級別，對測試設備的通道密度、測試速率與時序精度提出極限挑戰(zhàn)。國磊GT600測試機以400MHz測試速率和**2048個數字通道的強大配置，從容應對HBM接口的高并發(fā)、高速邏輯測試需求。其128M向量存儲深度可完整運行復雜協(xié)議測試Pattern，確保功能覆蓋無遺漏。更關鍵的是，GT600支持512Sites高并行測試，大幅提升測試吞吐量，**降低AI芯片的單顆測試成本。在HBM驅動的算力**中，GT600不**是測試工具，更是提升國產AI芯片量產效率與市場競爭力的**引擎。

國磊GT600支持400MHz高速測試與128M超大向量深度，足以運行手機芯片內部復雜的AI推理算法、多任務調度協(xié)議等長周期測試程序，避免傳統(tǒng)設備因內存不足導致的“中斷加載”，大幅提升測試覆蓋率和效率。其512站點并行測試能力，更可滿足手機芯片大規(guī)模量產需求，***降低測試成本。更重要的是，國磊GT600采用開放式GTFY系統(tǒng)，支持C++自主編程，工程師可深度定制測試流程，無縫對接內部研發(fā)與生產體系，實現從實驗室到工廠的快速轉化。在外部供應鏈受限的背景下，國磊GT600作為國產**測試設備，可以為國產手機芯片的持續(xù)迭代與穩(wěn)定量產，提供堅實、安全、可控的底層保障。國磊GT600SoC測試機提供測試向量轉換工具，支持從主流商用ATE平臺遷移HBM相關測試程序，降低導入成本。

在現代手機SoC中，高速接口如LPDDR5內存、PCIe4.0存儲、USB3.2/4.0數據傳輸等，已成為性能瓶頸的關鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復雜、時序嚴苛，對測試設備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細模擬高速信號邊沿與時鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務并發(fā)調度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設備因內存不足頻繁加載數據導致的測試中斷或覆蓋不全，真正實現“一次加載，全程跑完”，保障功能驗證的完整性與可靠性。國磊GT600SoC測試機作為通用ATE平臺，其測試能力由板卡配置與軟件程序決定，而非綁定特定工藝。鹽城CAF測試系統(tǒng)供應商

國磊GT600SoC測試機可以進行睡眠-喚醒循環(huán)測試即腳本化執(zhí)行多次低功耗狀態(tài)切換，監(jiān)測功耗一致性。杭州CAF測試系統(tǒng)哪家好

AI芯片在推理或訓練突發(fā)負載下，電流可在微秒級劇烈波動，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機支持高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設計團隊優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設計。其128M向量響應存儲深度支持長時間功耗行為記錄，用于分析AI工作負載的能耗模式?，F代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數常超2000。國磊GT600支持**2048個數字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗證。其512Sites高并行測試架構**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務器芯片大規(guī)模量產需求。
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