可選AWG/TMU/Digitizer:混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG(任意波形發(fā)生器)、TMU(時間測量單元)和Digitizer(數(shù)字化儀),使其從“數(shù)字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形,用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能,THD低至-122dB,信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率,可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲,保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號,用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍牙的IoT芯片時,杭州國磊GT600可同時激勵數(shù)字邏輯、注入模擬信號、采集響應(yīng)波形,實現(xiàn)全功能閉環(huán)驗證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應(yīng)對日益復(fù)雜的混合信號SoC,無需外接多臺設(shè)備,節(jié)省空間與成本。國磊GT600SoC測試機每通道32/64/128M向量存儲深度,支持復(fù)雜HBM協(xié)議Pattern的完整加載與執(zhí)行。GEN高阻測試設(shè)備研發(fā)

手機續(xù)航是用戶體驗的生命線,而功耗控制的**在于SoC芯片的“健康度”與“效率”。國磊GT600憑借其每通道**PPMU(精密參數(shù)測量單元),可對芯片每個引腳進行nA(納安)級靜態(tài)電流(Iddq)測量,相當于為芯片做“微電流心電圖”,精細識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電——這些“隱形耗電大戶”在待機時也會悄悄吞噬電量。通過篩查剔除“高漏電”芯片,國磊GT600確保只有“省電體質(zhì)”的質(zhì)量芯片進入量產(chǎn)。不僅如此,國磊GT600支持FVMI(強制電壓測電流)模式,可在不同電壓條件下模擬真實使用場景——如游戲高負載、多攝像頭同時工作、5G高速下載等——動態(tài)測量芯片功耗曲線,驗證其電源管理單元是否能智能調(diào)節(jié)電壓頻率,實現(xiàn)性能與功耗的比較好平衡。同時,其FIMV(強制電流測電壓)模式還能檢測芯片在極限負載下的電壓跌落,防止因供電不穩(wěn)導(dǎo)致死機或重啟。通過靜態(tài)+動態(tài)、微觀+宏觀的功耗全景測試,國磊GT600可以為國產(chǎn)手機SoC筑起“續(xù)航防火墻”,讓每一毫安時電量都用在刀刃上。浙江GEN測試系統(tǒng)定制每通道測試時間<15ms,256通道全測不超過60秒,高效節(jié)能。

智能汽車芯片的“安全衛(wèi)士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片,車規(guī)級MCU、功率半導(dǎo)體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴苛認證,確保在-40℃~150℃極端環(huán)境下穩(wěn)定運行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU,可精確測量nA級靜態(tài)漏電流(Iddq),識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電,從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片。其浮動SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統(tǒng),驗證電源管理單元在電壓波動、負載突變下的穩(wěn)定性,防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試(Burn-in)接口,配合溫控系統(tǒng)進行早期失效篩選,大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領(lǐng)域,杭州國磊GT600以“微電流級檢測+真實工況模擬”,為每一程出行筑起安全防線。
低功耗SoC在先進工藝下表現(xiàn)出更復(fù)雜的漏電行為、更敏感的電源完整性需求、更精細的時序窗口,以及混合信號模塊(如PLL、ADC、LDO)的高精度驗證要求。傳統(tǒng)測試設(shè)備往往難以滿足這些需求,尤其是在靜態(tài)電流(IDDQ)、電壓裕量測試、動態(tài)功耗曲線、喚醒延遲、電源序列控制等關(guān)鍵參數(shù)的測量上。此時,國磊GT600測試機的價值凸顯。GT600支持每通道PPMU(ParametricPinMonitorUnit),可實現(xiàn)nA級靜態(tài)電流測量,**捕捉先進工藝下SoC的漏電異常,確保低功耗模式(Sleep/DeepSleep)的有效性。其可選配的高精度浮動SMU板卡支持-2.5V~7V寬電壓范圍與1A驅(qū)動能力,可用于DVFS電壓切換測試與電源域上電時序驗證。精密的電流檢測能力,實時捕捉微小電流變化。

當全球HBM市場由三星、SK海力士主導(dǎo),當先進封裝技術(shù)成為“卡脖子”關(guān)鍵,國產(chǎn)測試設(shè)備的自主可控顯得尤為重要。國磊GT600測試機,正是在這一背景下崛起的國產(chǎn)**ATE**。它不**性能對標國際**設(shè)備,更以高性價比、本地化服務(wù)與持續(xù)創(chuàng)新能力,贏得國內(nèi)頭部AI芯片企業(yè)的信賴。GT600成功應(yīng)用于多款集成了HBM接口的GPU與AI加速器測試,驗證了其在**領(lǐng)域的實戰(zhàn)能力。選擇GT600,不**是選擇一臺測試機,更是選擇一條自主可控的國產(chǎn)化路徑。國磊GT600——智測HBM芯時代,賦能中國算力新未來!國磊GT600SoC測試機支持多種面向復(fù)雜SoC的具體測試流程,涵蓋從基本功能驗證到高精度參數(shù)測量的完整鏈條。高性能CAF測試系統(tǒng)哪家好
國磊GT600SoC測試機可以進行低功耗專項測試流程DVFS驗證即自動掃描電壓與頻率組合,評估能效比。GEN高阻測試設(shè)備研發(fā)
AI眼鏡的崛起標志著消費電子向“感知+計算+交互”一體化演進。其**SoC是典型的高度集成、低功耗、混合信號器件,測試難度遠超傳統(tǒng)MCU。國磊GT600測試機憑借nA級電流測量、高精度模擬測試、10ps時序分析、高并行架構(gòu)與開放軟件平臺,成為AI眼鏡SoC從研發(fā)驗證到量產(chǎn)落地的關(guān)鍵支撐。它不**滿足當前40/28nm節(jié)點的測試需求,更具備向更先進工藝延伸的能力。在AI終端加速滲透的浪潮中,GT600為國產(chǎn)可穿戴芯片提供可靠、高效、自主可控的測試解決方案,助力中國智造搶占下一代人機交互入口。GEN高阻測試設(shè)備研發(fā)