AI芯片在推理或訓(xùn)練突發(fā)負載下，電流可在微秒級劇烈波動，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機支持高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設(shè)計團隊優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設(shè)計。其128M向量響應(yīng)存儲深度支持長時間功耗行為記錄，用于分析AI工作負載的能耗模式?，F(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國磊GT600支持**2048個數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗證。其512Sites高并行測試架構(gòu)**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務(wù)器芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求。
實時電流監(jiān)測與快速數(shù)據(jù)采集，完整掌握電化學(xué)反應(yīng)過程。國產(chǎn)替代PCB測試系統(tǒng)廠商

天璣9000系列的成功，標(biāo)志著國產(chǎn)手機SoC在AI賽道的**崛起。而其背后，離不開從設(shè)計、制造到測試驗證的完整產(chǎn)業(yè)鏈支撐。國磊GT600測試機憑借其高通道密度、高并行能力、混合信號支持與開放C++軟件架構(gòu)，已成為**SoC測試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它不**支持STDF等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式輸出，便于良率分析與AI模型訓(xùn)練反饋，還可通過GPIB/TTL接口與探針臺、分選機聯(lián)動，構(gòu)建全自動CP/FT測試流程。選擇國磊GT600測試機，就是選擇一條高效、自主、面向AI時代的SoC測試之路。珠海絕緣電阻測試系統(tǒng)供應(yīng)國磊GT600GT-TMUHA04時間測量單元支持0.1%讀數(shù)精度±10ps，可用于傳感器接口芯片的時序響應(yīng)與延遲測量。

Chiplet時代的“互聯(lián)驗證者” Chiplet（芯粒）技術(shù)通過將大芯片拆分為小芯片再集成，突破摩爾定律瓶頸，成為先進制程的重要方向。然而，小芯片間的高速互聯(lián)（如UCIe）對信號完整性、功耗、時序提出極高要求。杭州國磊GT600憑借400MHz測試速率與100ps邊沿精度，可精確測量Chiplet間接口的信號延遲與抖動。其高精度SMU可驗證微凸塊（Micro-bump）的供電穩(wěn)定性，檢測微小電壓降。PPMU則用于測量封裝后各芯粒的**功耗，確保能效優(yōu)化。杭州國磊GT600的模塊化設(shè)計也便于擴展，可針對不同芯粒配置**測試板卡。在Chiplet技術(shù)快速發(fā)展的***，杭州國磊GT600以高精度互聯(lián)驗證能力，為國產(chǎn)先進封裝芯片的可靠性與性能保駕護航。

天璣9000系列集成了高性能CPU集群與**NPU，支持多模態(tài)AI推理、端側(cè)大模型運行，其芯片內(nèi)部信號復(fù)雜度遠超傳統(tǒng)SoC。國磊GT600測試機支持**2048個數(shù)字通道和400MHz測試速率，可完整覆蓋天璣類SoC的高并發(fā)I/O接口測試需求。其32/64/128M向量存儲深度支持復(fù)雜AI指令序列的Pattern加載，確保NPU功能邏輯的完整驗證。更關(guān)鍵的是，GT600支持512Sites高并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足手機SoC大規(guī)模量產(chǎn)的效率要求。在AI芯片“拼性能、拼量產(chǎn)”的競爭中，國磊GT600測試機為國產(chǎn)SoC廠商提供了高效、穩(wěn)定的測試保障。國磊GT600測試機模塊化16插槽架構(gòu)可同時集成數(shù)字、AWG、TMU、Digitizer板卡，實現(xiàn)HBM系統(tǒng)級混合信號測試。

GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關(guān)閉后，測量該模塊的靜態(tài)電流（IDDQ）。若電流**高于設(shè)計預(yù)期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關(guān)未完全關(guān)斷導(dǎo)致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監(jiān)測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關(guān)閉目標(biāo)模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網(wǎng)絡(luò)控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯(lián)動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應(yīng)，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關(guān)斷電流，可暴露常溫下難以發(fā)現(xiàn)的微小漏電。通過GTFY軟件系統(tǒng)編寫C++腳本，可自動化執(zhí)行：施加正常工作電壓；發(fā)送指令進入低功耗模式并觸發(fā)電源門控；延時穩(wěn)定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復(fù)多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復(fù)，并能捕捉間歇性漏電。國磊GT600SoC測試機邊沿精度（EPA）達100ps，確保HBM高速信號建立/保持時間（Setup/Hold）的精確測量。衡陽導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)哪家好

國磊設(shè)備，幫助您提升產(chǎn)品品質(zhì)與可靠性。國產(chǎn)替代PCB測試系統(tǒng)廠商

“風(fēng)華3號”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流圖形生態(tài)，其圖形管線包含頂點處理、光柵化、著色器執(zhí)行等復(fù)雜階段，測試需覆蓋多種渲染模式與狀態(tài)轉(zhuǎn)換。國磊GT600測試機支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于實現(xiàn)定制化圖形功能測試算法，如Shader指令序列驗證、Z-Buffer精度測試、紋理映射完整性檢查等。其128M向量響應(yīng)存儲深度可捕獲長周期圖形輸出行為，支持對幀率穩(wěn)定性、畫面撕裂等異常進行回溯分析。國磊GT600測試機還支持STDF、CSV等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式輸出，便于良率追蹤與測試數(shù)據(jù)與EDA仿真結(jié)果的對比驗證。國產(chǎn)替代PCB測試系統(tǒng)廠商