AI加速芯片（如思元系列）專為云端推理與邊緣計(jì)算設(shè)計(jì)，**訴求是“高算力密度、***能效比、毫秒級(jí)穩(wěn)定響應(yīng)”。這類芯片往往集成數(shù)千個(gè)AI**與高速互聯(lián)總線，測(cè)試復(fù)雜度高、功耗敏感、量產(chǎn)規(guī)模大，傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備難以兼顧效率與精度。國(guó)磊GT600憑借512站點(diǎn)并行測(cè)試能力，可同時(shí)對(duì)512顆芯片進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證，極大縮短測(cè)試周期，攤薄單顆芯片成本——這對(duì)動(dòng)輒數(shù)萬(wàn)片出貨的數(shù)據(jù)中心級(jí)芯片而言，意味著數(shù)千萬(wàn)級(jí)成本優(yōu)化。在功耗控制上，國(guó)磊GT600的PPMU單元可精確測(cè)量芯片在待機(jī)、輕載、滿載等多場(chǎng)景下的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)電流，結(jié)合FVMI（強(qiáng)制電壓測(cè)電流）模式，驗(yàn)證芯片在不同電壓域下的功耗表現(xiàn)，確保其在7x24小時(shí)運(yùn)行的數(shù)據(jù)中心中實(shí)現(xiàn)“每瓦特算力比較大化”。同時(shí)，其高精度TMU（時(shí)間測(cè)量單元，10ps分辨率）可檢測(cè)AI**間數(shù)據(jù)同步的時(shí)序抖動(dòng)，避免因時(shí)鐘偏移導(dǎo)致的推理錯(cuò)誤或延遲波動(dòng)，保障AI服務(wù)的穩(wěn)定低時(shí)延。 國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)支持多種面向復(fù)雜SoC的具體測(cè)試流程，涵蓋從基本功能驗(yàn)證到高精度參數(shù)測(cè)量的完整鏈條。吉安CAF測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司GM8800多通道絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)是專為電子制造業(yè)可靠性驗(yàn)證而打造的精良工具。該系統(tǒng)支持16至256個(gè)通道的靈活配置，實(shí)現(xiàn)大規(guī)模樣品并行加速測(cè)試，其電阻檢測(cè)能力覆蓋10^4~10^14Ω，測(cè)量精度嚴(yán)格控制，能夠滿足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)如IPC-TM-650 2.6.25對(duì)CAF測(cè)試的嚴(yán)苛要求。GM8800提供精確可編程的電壓輸出，內(nèi)置±100V精密電源，外接偏置電壓比較高3000V，電壓控制精度高，切換速度快，且測(cè)試電壓穩(wěn)定時(shí)間可根據(jù)材料特性在1~600秒間精確設(shè)置。系統(tǒng)集成高精度電流傳感和環(huán)境溫濕度監(jiān)測(cè)，實(shí)時(shí)采集所有關(guān)鍵參數(shù)，并通過(guò)完全屏蔽的低噪聲測(cè)量架構(gòu)保障數(shù)據(jù)真實(shí)性。配套軟件功能強(qiáng)大，提供自動(dòng)化測(cè)試流程、數(shù)據(jù)可視化、趨勢(shì)分析、報(bào)警設(shè)置、報(bào)告生成及遠(yuǎn)程控制功能。在系統(tǒng)可靠性方面，設(shè)計(jì)了***的硬件與軟件報(bào)警機(jī)制和UPS斷電保護(hù)選項(xiàng)。相較于英國(guó)GEN3等進(jìn)口品牌，GM8800在**測(cè)試性能上達(dá)到同等***水平，同時(shí)擁有更優(yōu)的通道經(jīng)濟(jì)性、更低的綜合持有成本和更迅捷的本土技術(shù)服務(wù)，已成為國(guó)內(nèi)**的PCB廠商、半導(dǎo)體封裝廠、新能源車企及科研機(jī)構(gòu)進(jìn)行絕緣材料研究、工藝評(píng)價(jià)和質(zhì)量控制的信賴之選，助力中國(guó)智造邁向高可靠性時(shí)代。GEN3測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格國(guó)磊設(shè)備，幫助您提升產(chǎn)品品質(zhì)與可靠性。

杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司GM8800導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）測(cè)試系統(tǒng)是國(guó)產(chǎn)**半導(dǎo)體測(cè)試裝備的重大成就，其性能指標(biāo)直接對(duì)標(biāo)國(guó)際**水平。該系統(tǒng)支持高達(dá)256個(gè)**通道的同步測(cè)試，電阻測(cè)量范圍橫跨10^4~10^14Ω，精度控制在±3%~±10%之間，能夠滿足**苛刻的絕緣材料與PCB板的CAF效應(yīng)評(píng)估需求。GM8800提供極其靈活和精確的電壓施加能力，內(nèi)置0V~±100V精密源，外接偏置電壓可達(dá)3000V，電壓控制精度***，步進(jìn)調(diào)節(jié)細(xì)膩，電壓建立速度快，并允許用戶設(shè)置1~600秒的穩(wěn)定時(shí)間以確保測(cè)試條件的一致性。系統(tǒng)集成數(shù)據(jù)采集功能，同步監(jiān)測(cè)記錄所有相關(guān)參數(shù)（時(shí)間、電阻、電流、電壓、溫濕度），并通過(guò)專業(yè)軟件進(jìn)行自動(dòng)化處理、分析和存儲(chǔ)，支持遠(yuǎn)程訪問與控制。其設(shè)計(jì)高度重視安全性與可靠性，內(nèi)置低阻、過(guò)壓、溫濕度越限、AC斷電、系統(tǒng)死機(jī)等多重報(bào)警機(jī)制，并可連接UPS提供長(zhǎng)達(dá)120分鐘的斷電保護(hù)。與價(jià)格昂貴的英國(guó)GEN3系統(tǒng)相比，GM8800在**功能與性能上實(shí)現(xiàn)***超越對(duì)標(biāo)，更在系統(tǒng)總擁有成本、通道擴(kuò)展性、定制化能力以及本土技術(shù)服務(wù)響應(yīng)效率上具備壓倒性優(yōu)勢(shì)，已成為國(guó)內(nèi)眾多**制造企業(yè)與研究機(jī)構(gòu)替代進(jìn)口、實(shí)現(xiàn)供應(yīng)鏈自主的優(yōu)先方案。

杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司推出的GM8800CAF測(cè)試系統(tǒng)，是國(guó)產(chǎn)設(shè)備在PCB可靠性測(cè)試領(lǐng)域挑戰(zhàn)并超越國(guó)際品牌的力證。該系統(tǒng)具備超高的256通道測(cè)試容量，電阻測(cè)量范圍橫跨10^4~10^14Ω，精度可靠，能夠高效、精細(xì)地評(píng)估PCB、基板、封裝體、絕緣材料等在高溫高濕和直流電場(chǎng)下的絕緣可靠性，精確捕捉離子遷移導(dǎo)致的失效。GM8800提供從1.0V到3000V的寬范圍偏置電壓選擇，內(nèi)置精密電源精度達(dá)±0.05V(100VDC內(nèi))，外接高壓穩(wěn)定，電壓上升速率快，并允許用戶自定義測(cè)試電壓的穩(wěn)定時(shí)間（1~600秒），以滿足不同標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)處理要求。系統(tǒng)集成高精度電流檢測(cè)（0.1μA~500μA）和溫濕度傳感器，數(shù)據(jù)采集***，并通過(guò)完全屏蔽的低噪聲測(cè)量線纜保障信號(hào)質(zhì)量。配套軟件功能強(qiáng)大，提供自動(dòng)化測(cè)試流程、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)可視化、趨勢(shì)分析、報(bào)警管理和報(bào)告生成，并支持遠(yuǎn)程訪問。在系統(tǒng)保護(hù)方面，具備***的硬件與軟件報(bào)警機(jī)制和斷電續(xù)航選項(xiàng)。與英國(guó)進(jìn)口GEN3系統(tǒng)相比，GM8800在**功能與性能上實(shí)現(xiàn)***對(duì)標(biāo)，更在通道數(shù)量、購(gòu)置成本、維護(hù)費(fèi)用以及定制化服務(wù)響應(yīng)速度上占據(jù)明顯優(yōu)勢(shì)，正成為國(guó)內(nèi)**制造業(yè)替代進(jìn)口、實(shí)現(xiàn)自主可控的優(yōu)先測(cè)試平臺(tái)。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)尤其適用于高引腳數(shù)、高集成度、混合信號(hào)特征明顯的先進(jìn)芯片。

“風(fēng)華3號(hào)”**了國(guó)產(chǎn)GPU在架構(gòu)創(chuàng)新與生態(tài)兼容上的重大突破，而其成功落地離不開從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的完整驗(yàn)證鏈支撐。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)憑借高通道密度、高并行能力（512Sites）、混合信號(hào)支持與開放軟件架構(gòu)，已成為**GPU、AI計(jì)算芯片測(cè)試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它支持GPIB/TTL接口與探針臺(tái)、分選機(jī)聯(lián)動(dòng)，構(gòu)建全自動(dòng)CP/FT測(cè)試流程，**提升測(cè)試效率與一致性。在國(guó)產(chǎn)GPU邁向大模型、醫(yī)療、工業(yè)等**應(yīng)用的進(jìn)程中，國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)提供從功能、參數(shù)到可靠性的**測(cè)試保障，助力中國(guó)芯在圖形與計(jì)算領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)自主可控。GT600通過(guò)高采樣率動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測(cè)捕獲電流波形，若峰值電流超過(guò)安全閾值，可判定存在電源設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)。南通導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

多通道分組測(cè)試，支持64/128/256可選配置，大幅提升檢測(cè)效率。吉安CAF測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

GT600每通道集成PPMU，具備nA級(jí)電流分辨率。在電源門控測(cè)試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號(hào)（PG_EN）關(guān)閉后，測(cè)量該模塊的靜態(tài)電流（IDDQ）。若電流**高于設(shè)計(jì)預(yù)期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關(guān)未完全關(guān)斷導(dǎo)致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時(shí)監(jiān)測(cè)主電源域與被門控電源域的電流。測(cè)試時(shí)，保持主邏輯供電，關(guān)閉目標(biāo)模塊的電源門控信號(hào)，通過(guò)對(duì)比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網(wǎng)絡(luò)控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯(lián)動(dòng)（通過(guò)探針臺(tái)接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進(jìn)行測(cè)試，放大漏電效應(yīng)，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測(cè)量關(guān)斷電流，可暴露常溫下難以發(fā)現(xiàn)的微小漏電。通過(guò)GTFY軟件系統(tǒng)編寫C++腳本，可自動(dòng)化執(zhí)行：施加正常工作電壓；發(fā)送指令進(jìn)入低功耗模式并觸發(fā)電源門控；延時(shí)穩(wěn)定（如10ms）；啟動(dòng)PPMU進(jìn)行電流采樣；重復(fù)多次以驗(yàn)證一致性。該流程確保測(cè)試可重復(fù)，并能捕捉間歇性漏電。吉安CAF測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)